产品资料
首页 >>> 产品中心 >>> 分析仪器 >>>  >>> Cresbox日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪

日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪

产品名称: 日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪
产品型号: Cresbox
产品特点: 日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪
产品特点
用于圆/方测量的可编程测量模式和绘图软件
自检功能,测量范围广
厚度/周边位置/温度校正功能(用于硅)
薄层电阻/金属膜厚显示功能

日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪 的详细介绍

日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪

 

测量规格

测量对象

  • 与半导体/太阳能电池材料有关(硅,多晶硅,SiC等)
  • 新材料/功能材料(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
  • 导电薄膜相关(金属,ITO等)
  • 扩散样品硅外延,离子注入样品
  • 其他(*请联系我们)

测量尺寸

〜8英寸,或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻率(电阻率)] 1 m至300 kΩ·cm 
[板电阻] 5 m至10 MΩ/ sq

 

传单

*单击下面的按钮下载此产品的传单。

下载

映射图像

  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])

高规格类型的电阻率(比电阻)/薄层电阻半自动四探针法测量仪器

产品名称:RT-3000 / RG-2000(RG-3000)

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  •  
  •  
  •  
  •  

产品特点

  • 具有世界醉高电阻测量范围的4探针测量仪
  • 用于圆/方测量的可编程测量模式和绘图软件
  • 自检功能,厚度/周边位置/温度校正功能(用于硅)
  • 根据电阻范围从2种类型的测试仪中选择
  • (RT-3000(S):宽范围,RT-3000(H):高电阻范围)

测量规格

测量对象

  • 与半导体/太阳能电池材料有关(硅,多晶硅,SiC等)
  • 新材料/功能材料(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
  • 导电薄膜相关(金属,ITO等)
  • 扩散样本
  • 硅基薄膜(LTPS等),IGZO
  • 硅基外延离子注入样品
  • 其他(*请联系我们)

测量尺寸

〜8英寸,或〜156x156mm 

・选件(兼容大直径尺寸:RG-3000型):〜12英寸,〜210×210mm

 

测量范围

①RT-3000(S);
[电阻率(电阻率)] 100μ- 1MΩ·cm 
[层电阻] 1m- 
10MΩ / sq②RT-3000(H);
[层电阻] 10m-1GΩ/ sq

 

传单

*单击下面的按钮下载此产品的传单。

下载

映射图像

  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])

平板(液晶等)电阻率(比电阻)/薄层电阻的半自动测量

商品名称:RG-100PV

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型<br />(多点测量系统[包括软件+ PC])
  •  
  •  
  •  
  •  

产品特点

  • 用于玻璃基板上薄膜的4探针半自动测量仪
  • XY轴机械平台
  • 对于平面内多点测量,均匀螺距或随机螺距的可选设置,已安装2-D / 3-D映射软件

测量规格

测量对象

  • 与半导体/太阳能电池材料有关(硅,多晶硅,SiC等)
  • 新材料/功能材料(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
  • 导电薄膜相关(金属,ITO等)
  • 扩散样品硅薄膜(LTPS等),IGZO
  • 硅基外延离子注入样品
  • 与化合物半导体有关的(GaAs,Epi,GaN,Epi,InP,Ga等)
  • 其他(*请联系我们)

测量尺寸

大300 x 300毫米(可选;大500 x 500毫米)

 

测量范围

[电阻率(比电阻)] 1 m至200Ω·cm 
[板电阻] 1 m至1,000kΩ/ sq(可选;醉高10 MΩ/ sq)

日本napson阶段集成式半自动四探针测量仪

产品留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

深圳市秋山贸易有限公司版权所有 地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路和健云谷2栋B座1002

13823147203
13823147203
在线客服
手机
13823147203

微信同号