日本napson热电动势接触式PN探测器

热电动势接触式PN探测器

产品名称：PN-12α

产品图片（可根据客户要求进行各种定制）

产品特点

样品的导电类型（PN）通过将其与笔型探头（热/冷探头集成型）接触来确定

兼容单晶硅晶片，块和锭

*对于难以使用集成探头判断的样品，您还可以选择热/冷探头/分离类型。

测量规格

测量对象

与半导体/太阳能电池材料有关（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

30x30mm以上

测量范围

可用于PN测定的样品电阻率范围：1 m至20kΩ·cm 
*不能部分确定多晶硅，带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品

热电动势接触式PN探测器

产品名称：PN-12α

产品图片（可根据客户要求进行各种定制）

产品特点

样品的导电类型（PN）通过将其与笔型探头（热/冷探头集成型）接触来确定

兼容单晶硅晶片，块和锭

*对于难以使用集成探头判断的样品，您还可以选择热/冷探头/分离类型。

测量规格

测量对象

与半导体/太阳能电池材料有关（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

30x30mm以上

测量范围

可用于PN测定的样品电阻率范围：1 m至20kΩ·cm 
*不能部分确定多晶硅，带有膜的晶片以及表面呈镜面状态或被氧化的样品

日本napson热电动势接触式PN探测器