日本asey热工状况测量系统
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
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