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日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计

产品名称: 日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
产品型号: PVE-80
产品特点: 日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
由于是使用脉冲电压激励法作为测量原理的非接触电阻测量系统,因此可以在不损坏样品的情况下进行测量。

日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计 的详细介绍

日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计

 

  • 节省空间的设计主体外壳,便携式可移动平台

  • 通过PC(软件)进行简单的测量操作,数据存储和管理

  • 测量显示单元可以根据应用(薄层电阻,电导率,电导率)进行更改

    *本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法(篆隶号5386394)。

测量规格

测量目标

与新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)与
导电薄膜相关(金属,ITO等)
与化合物半导体相关(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查询)请给我)

测量尺寸

〜A4尺寸(W300 x D210mm)

测量范围

50μ〜1mΩ/平方

  • 节省空间的设计主体外壳,便携式可移动平台

  • 通过PC(软件)进行简单的测量操作,数据存储和管理

  • 测量显示单元可以根据应用(薄层电阻,电导率,电导率)进行更改

    *本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法(篆隶号5386394)。

测量规格

测量目标

与新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)与
导电薄膜相关(金属,ITO等)
与化合物半导体相关(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查询)请给我)

测量尺寸

〜A4尺寸(W300 x D210mm)

测量范围

50μ〜1mΩ/平方

日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计

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