日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计

日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计

• 节省空间的设计主体外壳，便携式可移动平台

• 通过PC（软件）进行简单的测量操作，数据存储和管理

• 测量显示单元可以根据应用（薄层电阻，电导率，电导率）进行更改

  *本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法（篆隶号5386394）。

测量规格

测量目标

与新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）与
导电薄膜相关（金属，ITO等）
与化合物半导体相关（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查询）请给我）

测量尺寸

〜A4尺寸（W300 x D210mm）

测量范围

50μ〜1mΩ/平方

• 节省空间的设计主体外壳，便携式可移动平台

• 通过PC（软件）进行简单的测量操作，数据存储和管理

• 测量显示单元可以根据应用（薄层电阻，电导率，电导率）进行更改

  *本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法（篆隶号5386394）。

测量规格

测量目标

与新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）与
导电薄膜相关（金属，ITO等）
与化合物半导体相关（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查询）请给我）

测量尺寸

〜A4尺寸（W300 x D210mm）

测量范围

50μ〜1mΩ/平方

日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计