产品资料
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
产品名称: 日本napson2探针法扩散电阻测试仪
产品型号: SRS-2010
产品特点: 日本napson2探针法扩散电阻测试仪可以获得样品的深度方向上的电阻分布，外延层的厚度，PN结的深度以及载流子浓度分布。可以从几平方毫米的区域分析几百微米的图案区域。根据测得的扩展电阻，使用校准曲线计算电阻
日本napson2探针法扩散电阻测试仪 的详细介绍
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
测量规格
测量目标
与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
测量尺寸
*请联系我们。
测量范围
1-10E + 9（Ω）[扩展电阻]
施加电压：10（mV）检测电流：10（pA）至10（mA）
日本napson2探针法扩散电阻测试仪
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