日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
校准后180天[校准后1年:1.5倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
测量范围 | 标准值设定范围 | 实测电流 | 测量精度* | ||
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慢 | 快速 | ||||
100毫欧 | 5mΩ-100mΩ | 100毫安 | ≤±0.02%±2a±2d | ≤±0.03%±3a±2d±[2 /(1 + n)] d | |
1Ω | 100.1mΩ〜1Ω | 100毫安 | 在±0.02%±a±1d之内 | ≤±0.02%±a±2d±[2 /(1 + n)] d | |
10Ω | 1.001Ω〜10Ω | 50毫安 | |||
100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10毫安 | ±0.02%±1d以内 | 在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内 | |
1kΩ | 100.1Ω〜1kΩ | 5毫安 | |||
10kΩ的 | 1.001kΩ〜10kΩ | 0.5毫安 | |||
100kΩ的 | 10.01kΩ-100kΩ | 50微安 | |||
1兆欧 | 100.1kΩ〜1MΩ | 5微安 | 在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内 | ||
10兆欧 | 1.001MΩ〜10MΩ | 0.5微安 | ±0.03%±1d以内 | 在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内 | |
100兆欧 | 10.01MΩ〜109MΩ | 0.05微安 | ±0.1%±2d以内 | ─── |
* D =数字,n =积分时间(毫秒),%测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,值测量:α= 0(加±1d)
*完整屏蔽状态下的精度
测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
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慢 | 快速 | 慢 | 快速 | |
大约18毫秒-400毫秒 | 大约0.7毫秒-400毫秒 | 约30次/秒〜 约2次/秒 | 约60次/秒〜 约2次/秒 |
测量端子开路电压 | 15V以下 |
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测量结束信号(EOC)脉冲宽度 | 1到250毫秒,并且可以连续设置 |
测量方式 | 4端子测量/ 2端子测量可切换 |
判断值设定范围 | %测量:±99.99%,值测量:00000-20000 |
周边环境 | 温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下 |
需要电源 | AC85V〜265V,50Hz〜60Hz,约50VA |
外形尺寸 | 333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起) |
重量 | 约3.5kg |
选项 | ・ GP-IB |
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・数据传输线 | |
・短接(零欧姆标准电阻) | |
・转换适配器(3P x2⇒5P) |
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
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