产品资料
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
产品名称: 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
产品型号: AE-162D
产品特点: 日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪适用于 D，F，G，J，K类，切屑，熔体，径向和轴向电阻器的分拣和编带机
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪 的详细介绍
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
- 模拟到数字隔离，提高了抗噪声能力，具有很高的稳定性
- 与极小的芯片兼容（低功率测量）
- 超高速0.7毫秒（代表值）
- 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
- 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能，实现超高速和高稳定性测量
- ％测量：±99.99％[5mΩ-109MΩ]
- 测量：0.00mΩ〜200.00MΩ
- 接触检查：测量前/测量后/ OFF
- RS-232C接口标准设备（GP-IB是可选的）
- 打印机输出标准设备（与Centronics兼容）
- 设置值传送功能作为标准设备：（相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置）
- 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
校准后180天[校准后1年：1.5倍]的测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C）
| 测量范围 | 标准值设定范围 | 实测电流 | 测量精度* | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速 | ||||
| 100毫欧 | 5mΩ-100mΩ | 100毫安 | ≤±0.02％±2a±2d | ≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d | |
| 1Ω | 100.1mΩ〜1Ω | 100毫安 | 在±0.02％±a±1d之内 | ≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d | |
| 10Ω | 1.001Ω〜10Ω | 50毫安 | |||
| 100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10毫安 | ±0.02％±1d以内 | 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之内 | |
| 1kΩ | 100.1Ω〜1kΩ | 5毫安 | |||
| 10kΩ的 | 1.001kΩ〜10kΩ | 0.5毫安 | |||
| 100kΩ的 | 10.01kΩ-100kΩ | 50微安 | |||
| 1兆欧 | 100.1kΩ〜1MΩ | 5微安 | 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之内 | ||
| 10兆欧 | 1.001MΩ〜10MΩ | 0.5微安 | ±0.03％±1d以内 | 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之内 | |
| 100兆欧 | 10.01MΩ〜109MΩ | 0.05微安 | ±0.1％±2d以内 | ─── | |
* D =数字，n =积分时间（毫秒），％测量：α=（100 /标准设定值mΩ）x 0.01％，值测量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽状态下的精度
| 测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
|---|---|---|---|---|
| 慢 | 快速 | 慢 | 快速 | |
| 大约18毫秒-400毫秒 | 大约0.7毫秒-400毫秒 | 约30次/秒〜 约2次/秒 | 约60次/秒〜 约2次/秒 | |
| 测量端子开路电压 | 15V以下 |
|---|---|
| 测量结束信号（EOC）脉冲宽度 | 1到250毫秒，并且可以连续设置 |
| 测量方式 | 4端子测量/ 2端子测量可切换 |
| 判断值设定范围 | ％测量：±99.99％，值测量：00000-20000 |
| 周边环境 | 温度：0°C至+ 50°C，湿度：80％以下 |
| 需要电源 | AC85V〜265V，50Hz〜60Hz，约50VA |
| 外形尺寸 | 333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡胶脚等突起） |
| 重量 | 约3.5kg |
| 选项 | ・ GP-IB |
|---|---|
| ・数据传输线 | |
| ・短接（零欧姆标准电阻） | |
| ・转换适配器（3P x2⇒5P） |
日本ae-mic超高速芯片电阻测试仪
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