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日本ae-mic超低电阻测试仪

产品名称: 日本ae-mic超低电阻测试仪
产品型号: AE-1152D_11C
产品特点: 日本ae-mic超低电阻测试仪
自动测量超低电阻的醉佳选择
配备BIN功能,判断结果可以分为11类

日本ae-mic超低电阻测试仪 的详细介绍

日本ae-mic超低电阻测试仪

 

  • 非常适合分流电阻器等的超低电阻测量。
  • 取消对热电效应的测量
  • 脉冲测量电流,以减少测量端子的自热和磨损
  • 接触检查功能标准设备
  • 测量:0.0000mΩ〜1.5000kΩ
  • %测量值:0.1mΩ〜1kΩ/±50.00%[小分辨率10nΩ]
  • GP-IB / RS-232C / Centronics接口(可选)
  • 配备BIN功能[BIN1至BIN9] (多可以分类11个),集电极开路输出,LED显示和蜂鸣器声音
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
  • 移位输出可能

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

测量范围测量范围解析度实测电流测量精度
1毫欧0.0000mΩ〜1.5000mΩ0.1微欧3A±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega)
±3Digit [平均] 
±4位数[SLOW] 
±5digit [快]
10毫欧0.000mΩ至15.000mΩ1微欧1A
100毫欧0.00mΩ至150.00mΩ10微欧
0.0000Ω〜1.5000Ω100微欧100毫安
10Ω0.000Ω至15.000Ω1毫欧
100Ω0.00Ω至150.00Ω10毫欧10毫安
1KΩ0.0000kΩ至1.5,000kΩ100毫欧1毫安
0.1mΩ〜1kΩ/±50.00%0.01%[10nΩ]看上面参考规格
测量端子开路电压5V以下
测量方式4端子测量[可进行接触检查]
采样时间[自由运行] 2至10次/秒
[外部启动]大约9毫秒-400毫秒。
比较器设定范围上限和下限均为[0至15000],
%范围:低0至-50%,高0至+ 50%
比较器判断结果显示[BIN1至BIN9]显示和蜂鸣器
控制信号测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持
判断结果信号[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] 
:集电极开路输出max40V,100mA
接触错误[CONT-E]:
集电极开路输出大40V,100mA
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出大40V,100mA
周边环境温度:5℃〜+ 40℃湿度:85%以下
需要电源AC85V-265V,50-60HZ,约60VA
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约3kg
选项・ RS-232C这些选项中 只有
一个
可以内置。
・ GP-IB
・打印机输出(Centronics)
・打印机电缆
・短接(零欧姆标准电阻)

 日本ae-mic超低电阻测试仪

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