产品特点: 日本 NPS IC 检测用 GGB Pico 探针系统采用低阻抗微探针设计,可精确测量 IC 内部电压,减少测量设备负载,是集成电路设计领域的标准分析测量工具。
日本 NPS IC 检测用 GGB Pico 探针系统 的详细介绍
日本 NPS IC 检测用 GGB Pico 探针系统日本 NPS IC 检测用 GGB Pico 探针系统,是专为半导体、液晶及集成电路设计开发的高精度 IC 检测微探针系统,采用美国 GGB 公司的 Pico 探针技术,可精确测量 IC 内部电压,是集成电路设计领域分析测量的全球标准仪器。
系统搭载 Model 7、Model 12C、Model 34A、Model 35 等多种型号探针,其中 Model 35 是蕞快的 FET 探针代表,专为高频、高速 IC 电压测量设计。探针采用低阻抗、低杂散电容设计,可将探针本身的杂散电容值保持在最大限度,使阻抗接近无限值,最大限度减少对测量设备的负载影响,实现忠实、准确的测量。探针配合 NPS GT-1100 微波测试台和 800M 微定位器使用,可对晶圆上的微小 IC 引脚进行精准定位与接触,配合示波器、信号源等设备,完成 IC 内部电压波形、时序特性等参数的测试分析。
设备支持与适配器等通信,可与各制造商的探测器兼容使用,广泛应用于半导体研发、芯片设计验证、失效分析等场景,为集成电路的性能优化与质量控制提供可靠数据支撑。作为集成电路设计领域的标准分析工具,GGB Pico 探针系统凭借高精度、低干扰的特点,成为 IC 检测领域的核心设备。