日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪

Name: 日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪SWIR Image Scanner
Brand: 其他品牌
Price: 1116 CNY
Availability: InStock

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产品名称: 日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪

产品型号: SWIR Image Scanner

产品特点: 日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪
SWIR 图像扫描仪采用图像扫描检测方式，搭载基准板校正机构，支持反射率、透射率二维分布解析，可完成半导体检查、水分分布可视化、食品异物检测，共提供四款不同配置机型。

日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪 的详细介绍

日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪

设备基础规格

检测方式：SWIR 短波红外图像扫描

校正机构：基准板校正机构

光学特性：照射、受光角度固定，消除光泽材质反光干扰

读取尺寸：310mm×420mm

光源：SWIR λ=1050/1300/1550nm，全彩机型附带白光光源

信号规格：12bit 输入 /16bit 输出

可选配置：透射模式

机型区分：

模型 1 SWIR 专用机：900 万像素

模型 2 SWIR‑HDR 专用机：570 万像素

模型 3 2ch‑SWIR 双通道机型：单通道 140 万像素

模型 4 全彩色 / SWIR 多模式机型：彩色 1600 万像素，SWIR140 万像素

核心产品特性

该款 SWIR 图像扫描仪属于短波红外成像扫描设备，内置基准板校正机构，能够稳定完成反射率与透射率的二维分布解析工作。设备固定照射以及受光角度，面对高光泽工件、物料时，能够输出不受反光干扰的图像，避免光泽带来的检测误判。设备划分四款配置机型，可根据实际测试需求选择单通道、双通道、HDR 高动态以及彩色复合 SWIR 版本，适配不同分辨率与光谱采集需求。设备支持透射模式选配，拓展样品检测形式。整机适用于实验室离线检测场景，将物料内部水分、杂质、晶圆均匀性差异转化为可视化二维图像，方便工作人员直观读取分布情况，减少人为判断误差，可灵活切换检测目标，兼顾半导体、食品、材料分析多类测试需求。

适用场景

半导体晶圆均匀性评估；物料水分分布二维可视化检测；食品内部异物筛查；各类材料反射率、透射率二维分布解析；需要短波红外成像分析的科研与工业检测。

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日本 iMeasure SWIR 图像扫描仪

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