日本大塚电子 ELSZneo 粒度电位分析仪

日本大塚电子 ELSZneo 粒度电位分析仪日本大塚电子 ELSZneo 粒度电位分析仪

设备基础规格

• 光源：窄带半导体激光器

• 检出器：高感度 APD

• 测量项目：粒径、Zeta 电位、分子量、粒子浓度、微流变学、凝胶网络结构分析

• 温度范围：0‑90℃，具备温度梯度功能

• 设备尺寸：330 (W)×565 (D)×245 (H) mm

• 功耗：250VA

• 整机重量：22kg

• 粒径测量原理：动态光散射法，测量范围 0.6nm‑10μm

• Zeta 电位测量原理：电泳光散射法，无有效测量上限

• 分子量测量原理：静态光散射法，测量范围 340‑2×10⁷

• 浓度适用范围：0.00001‑40%

• 软件语言：日语、英语、韩语、中文简体、中文繁体

这款日本大塚电子 ELSZneo 粒度电位分析仪是一体化多参数检测设备，融合动态光散射、电泳光散射、静态光散射三种核心检测原理，一台设备就可以完成纳米颗粒粒径、Zeta 电位、分子量、粒子浓度等多项关键物性指标检测，有效减少多台仪器采购成本与样品转移带来的测试误差。设备对样品兼容性强，从稀薄低浓度样品到高浓度悬浮体系都可直接开展测试，无需繁琐稀释预处理，能够保留样品原始状态，保障测试数据真实有效。仪器搭载零差法与外差法光学系统，搭配高灵敏度 APD 检出器，微弱信号也可以精准捕捉，同时配备残差功能，直观反馈每一组测试数据的可靠程度，便于操作人员快速甄别无效数据。Zeta 电位测量模块引入森‑冈本公式，消除样品池电渗流干扰，不仅可以测试悬浮颗粒，还能够完成平板、薄膜类样品表面 Zeta 电位评估，可模拟生物盐溶液环境以及不同 pH 条件开展实验。分子量检测依靠静态光散射法，无需标准标样即可输出绝对分子量，同时可获取第二维里系数等关键参数。设备自带 0‑90℃宽域温控，支持温度梯度实验，满足高分子相变、胶体温度稳定性研究需求。配套功能分析软件，涵盖多种计算算法，满足科研、研发、质控不同分析习惯，软件兼容 FDA 相关规范，多语种界面降低国内人员操作门槛，整机结构紧凑，占用实验室台面空间小，样品池配件丰富，微量、常规、流通式样品均可适配，大幅拓展实际测试场景。

适用于高校科研实验室、材料研发企业、生物医药、化工涂料、纳米粉体、高分子、日化制剂等领域。可用于纳米颗粒、胶体悬浮液、乳液、蛋白生物样品、高分子溶液、颜料浆料等物料的理化性能评估，支持新材料配方研发、生产过程质量管控、产品稳定性验证、表面改性效果评价，也可开展平板薄膜材料表面电荷特性研究，为配方优化、工艺改进、产品质量判定提供可靠量化检测数据支撑。