日本 NCC DTSP10 落尘计数器

日本 NCC DTSP10 落尘计数器日本 NCC DTSP10 落尘计数器

设备基础规格

• 最小可测粒径：10μm

• 粒径区分 DTSP10-02：10μm、30μm、50μm、100μm

• 粒径区分 DTSP10-03：10μm、30μm、50μm、100μm，11~99μm 可自定义设定

• 晶片规格：DTSP10-02 采用 4 英寸晶片；DTSP10-03 支持 4 英寸、2 英寸晶片

• 最大测试范围：4 英寸晶片 Φ80mm，2 英寸晶片 Φ30mm

• Trimming 功能：DTSP10-02、DTSP10-034 英寸版本具备，2 英寸版本无

• 切换显示：DTSP10-02 无，DTSP10-03 支持区分显示

  核心产品特性DTSP10 落尘计数器区别于常规悬浮粒子计数器，专注于沉降附着粉尘检测，针对 10μm 以上粗大颗粒物分级统计，这类粗颗粒是无尘车间产品异物不良的主要诱因。采用晶片采集方式，只要可放置晶片的位置均可开展检测，搭配 2 英寸晶片可进入狭小空间，也可用于炉内、传送带等特殊位置的附着粉尘调查。晶片经专用治具清洁后能够反复使用，降低耗材成本。设备配套软件自动完成粒子识别、计数与数据存储，替代传统胶带采样加人工显微镜观测的方式，大幅提升检测效率，减少人为误差。设备需安置在百级左右无尘环境下使用，避免外部粉尘干扰检测结果，可帮助企业评估无尘室环境水平，定位异物来源，建立稳定的洁净环境管控体系。

  适用场景主要应用于半导体、光学、电子制造等无尘车间，用于洁净室沉降异物监测，排查生产设备、无尘服、产线环境的附着粉尘，分析粗大落尘与产品缺陷之间的关联，也可用于高温炉体、输送设备内部附着尘埃的检测，为无尘车间环境改善提供量化数据支撑。