日本 NAPSON DUORES 手持式薄层电阻测量仪

日本 NAPSON DUORES 手持式薄层电阻测量仪日本 NAPSON DUORES 手持式薄层电阻测量仪

设备基础规格

• 无损涡流探头测量范围：0.5-200Ω/□，测点 φ25mm

• 接触四点探针测量范围：0.001-4000Ω/□，测点 9mm

• 测量单位：Ω/□，S/□，n/m

• 主机尺寸：宽 100 × 深 32 × 高 210mm，重量约 350g 不含电池

• 无损探头尺寸：宽 70 × 深 20 × 高 70mm，重量约 170g

• 接触探头尺寸：宽 40 × 深 15 × 高 50mm，重量约 85g

• 数据显示：最多 100 条，数据存储：最多 50000 条

• 供电模式：电池供电，续航 24 小时

• 数据传输：USB-Mini 接口

• 核心产品特性

  DUORES 搭载 NAPSON 原创技术，一台主机可更换两种探针，兼顾无损检测与接触式测量需求。设备自动触发测量，探头接触或放置样品表面即可开始采集数据，简化现场操作流程。机身采用轻量化手持设计，方便携带至产线或实验室做多点抽检。数据采用四位浮点小数点显示，读数精度高，可保存海量测量记录，便于后续追溯与导出分析。无损涡流探头无需划伤样品表面，适合不可损伤的薄膜工件；四点接触探针可覆盖更广的方阻区间，适配高阻与低阻导电层检测。主机功耗控制优异，电池模式可连续 24 小时不间断检测，满足长时间现场巡检。可适配多种基底材料，样品外形尺寸限制小，只要大于测点尺寸即可完成测试，适配多样化来料检测需求。

• 适用场景

  用于 ITO、TCO 导电薄膜、低辐射玻璃、碳纳米管、石墨烯、金属纳米线及金属网格薄膜等材料方阻检测，基底可适配玻璃、薄膜、纸张等，广泛应用于光学镀膜、柔性材料、显示、新能源材料研发与产线质量管控。