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日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪

产品名称: 日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪
产品型号: EC-80
产品特点: 日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪
一种简单的测量仪器,只需在探针之间插入样品即可进行测量
在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
使用JOG拨盘轻松设置测量条件
*由于探头是固定的,因此您可以在购买前从几种类型的探头中选择一种。

日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪 的详细介绍

日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪

 

测量规格

测量目标

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与
半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请与我们联系)

 

测量尺寸

〜8英寸,或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm 
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq 
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

测量规格

测量目标

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延,离子与
半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请与我们联系)

 

测量尺寸

〜8英寸,或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm 
(*所有探头类型的总范围/厚度500um)
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq 
(*所有探头类型的总范围)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

日本napson紧凑易操作手动非接触式电阻仪

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