日本 AEMIC AE‑1152D 低电阻测试仪

日本 AEMIC AE‑1152D 低电阻测试仪日本 AEMIC AE‑1152D 低电阻测试仪设备基础规格

• 测量范围：0.0000mΩ~1.5000kΩ，百分比测量 0.1mΩ~1kΩ

• 最小分辨率：10nΩ

• 测定方式：4 端子测定，支持接触检测

• 抽样时间：空转 2~10 回每秒，外部启动 9msec~400msec

• 判定分类：BIN1 至 BIN9，最大支持 11 分类

• 电源：AC85V~265V，50‑60Hz，约 60VA

• 外形尺寸：333×99×300mm

• 整机重量：约 3kg

• 工作环境：温度 5℃‑40℃，湿度 85% 以下

• 可选配件：RS‑232C，GP‑IB，打印输出接口，短路端子器

这款直流低电阻测试仪主打超低电阻的自动化测定，针对分流电阻这类阻值极小的被测件做了专项优化，能够有效抵消热电动势对读数造成的偏移，保障微弱电阻信号采集的真实可靠。设备采用脉冲测定电流的工作模式，能够降低仪器自身发热，同时减少测试端子磨损，延长探头使用寿命，非常适合长时间连续产线作业。机器自带接触检测功能，一旦出现探针接触不良，即可输出对应告警信号，避免因接触异常产出错误测量数据。内置 BIN 分级判定功能，可实现多档位结果筛选，搭配集电极开路输出，能够直接对接外部工控设备，LED 显示和蜂鸣器可以同步提示判定状态，方便操作人员快速分辨良品与不良品。仪器内部搭载电流电压异常监测回路，实时监控测试回路工况，规避异常工况损伤被测样品。设备量程覆盖从毫欧级到千欧级，多档测量电流自动适配不同被测对象，快慢平均多种测量模式可供切换，兼顾检测速度与测试精度。通讯接口为选配形式，可按需加装，实现数据上传与打印输出，适配实验室检测以及自动化产线集成的不同使用需求。整机体积紧凑，机架式结构便于安装在测试机柜当中，抗环境干扰能力强，适应工厂车间的实际使用工况。

适用场景广泛用于分流电阻、精密电阻元器件的出厂批量检测，也可用于金属导体、焊接接点、线束端子的接触电阻测试。可应用在电子元器件制造，汽车零部件检测，线束加工，新材料研发实验室等领域，能够对接自动化测试工装，完成产线上的快速分选判定，也支持实验室环境下的高精度电阻比对测试。