日本 Particle Labs BloomRay 薄膜检测照明

日本 Particle Labs BloomRay 薄膜检测照明日本 Particle Labs BloomRay 薄膜检测照明设备基础规格

• 光源种类：高亮度 LD 励起点光源，激光安全等级 1 类

• 光颜色：绿黄色，中心波长 550nm，波长范围 500~700nm

• 本体尺寸：W342mm×D242mm×H183mm

• 重量：8kg

• 输入电源：单相 AC100-120/220-240V 50/60Hz 5A/2A

• 消耗电力：约 500W

• 照射方式：光纤照射 或者本体直接照射

• 设计寿命：连续点灯 2 万小时以上

• 使用环境：温度 0～35℃，相对湿度 20～85%，无结露

• 标准构成：光源本体、电源线、光纤光学组件

• 可选配件：直接照射单元、专用图像处理相机 + 镜头套装

核心产品特性BloomRay 搭载超指向性 LD 激励光源，光线穿过密度梯度不同介质时产生折射，可将传统目视难以辨识的微小缺陷清晰显现，降低人工漏检风险，缩短检测耗时。设备支持光纤末端照射与本体直接照射双模式，无光衰减，光纤式照射头体积小巧，便于集成至卷对卷产线，实现 R2R 在线实时检测。光源仅使用可见光波段，零紫外线输出，保护操作人员眼部安全，无汞设计，降低环境负荷，无需频繁更换灯管，减少运维成本。照射距离可调，能够适配宽幅薄膜、玻璃基板等多种规格工件，兼容 SAW 滤波器母材质量评估。整机本体结构紧凑自重 8kg，便于移动架设，连续点灯寿命可达 2 万小时以上，稳定性优异。光源为激光安全 1 类，使用安全性高，搭配可选的图像处理相机套件，可实现缺陷图像采集与分析，兼顾实验室抽检与产线在线质检场景，大幅降低对检测人员熟练度的依赖，新手也可稳定完成缺陷检查。

适用场景适用于高功能薄膜涂布成型缺陷检测，识别 PET 薄膜成型不良、橘皮纹、划痕、波纹、鱼眼等瑕疵；可对光学与电子器件玻璃基板，识别纹理、气泡、胶层不均、剥离、应力畸变等缺陷。广泛应用于光学膜、离型膜、半导体玻璃基板、SAW 滤波器基材的质量检测，适配材料实验室抽检以及卷对卷连续生产在线质检工序。