日本 ARTRAY 99xSWIR 无损检测相机
日本 ARTRAY 99xSWIR 无损检测相机
设备基础规格
镜头卡口:C 卡口
快门类型:全局式
光谱范围:400nm~1700nm
供电:非冷却型 DC5V,冷却型 DC12V
外形尺寸:冷却型 71.6×61.5×78.0mm,非冷却型 50.0×47.0×42.7mm
重量:冷却型 440g,非冷却型 110g
输出接口:USB2.0、USB3.0、CameraLink、10GigE
配套:观测软件、二维测量软件、驱动、SDK 开发包
核心产品特性
ARTCAM-99xSWIR 系列依托索尼 SWIR 传感芯片实现宽波段成像,能够穿透部分材质,识别可见光下隐藏的内部缺陷、组分差异,弥补普通视觉相机的检测盲区。产品线丰富,像素规格覆盖 32 万至 524 万,提供带 TEC 制冷与无制冷版本,制冷款可抑制噪声,提升长时间成像稳定性,适合低信号采集场景。接口方案齐全,USB 版本即插即用,CameraLink、万兆网口满足高速高帧率采集需求,最高帧率可达 258fps,曝光调节区间宽泛,适配快慢不同的产线节拍。相机采用全局快门,消除运动拖影,保障动态检测图像清晰度。配套软件与 SDK,支持二次开发,方便集成至客户自有视觉系统,C 卡口设计兼容市面多款近红外专用镜头,拓展灵活。整机结构紧凑,非冷却机型体积轻巧易于安装,制冷机型散热结构扎实,适应工业车间长期连续工作,稳定输出高对比度短波红外图像。
适用场景
多用于半导体晶圆、芯片内部缺陷检测,农产品内部霉变、糖度、空心无损分选,药液、瓶装液体异物检测,塑胶、复合材料内部结构观测,也可用于科研光谱观测、医疗影像辅助分析等无损检测领域。
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