产品资料
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
产品名称: 数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
产品型号: MX1-DL
产品特点: 数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计，提供精确的测量结果。1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素屏幕，25Hz刷新频率，确保了清晰的显示效果。手动或自动增益控制，根据测量模式选择(50dB增益范围)，以适应不同的测量需求。内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)，提高了测量的准确性。
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪 的详细介绍
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点：采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计，1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素屏幕，25Hz刷新频率。手动或自动增益控制，根据测量模式选择(50dB增益范围)，内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)，A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式，两个独立的门，脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式，双晶探头，内置4GB SD卡，通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数，能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点：采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计，1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素屏幕，25Hz刷新频率。手动或自动增益控制，根据测量模式选择(50dB增益范围)，内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)，A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式，两个独立的门，脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式，双晶探头，内置4GB SD卡，通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数，能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点：采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计，1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素屏幕，25Hz刷新频率。手动或自动增益控制，根据测量模式选择(50dB增益范围)，内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)，A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式，两个独立的门，脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式，双晶探头，内置4GB SD卡，通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数，能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点：采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计，1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素屏幕，25Hz刷新频率。手动或自动增益控制，根据测量模式选择(50dB增益范围)，内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG)，A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式，两个独立的门，脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式，双晶探头，内置4GB SD卡，通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数，能够快速获取测量结果。
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