高照度高均匀性的工业检测光纤光导光源设备

产品名称: 高照度高均匀性的工业检测光纤光导光源设备

产品型号: LA-HLF100

产品特点: 高照度高均匀性的工业检测光纤光导光源设备
日本林时计 H-Repic LA-HLF100 是一款台式小型、高功率、高亮度的可见光光纤光源，采用“LD 激光激发荧光"技术，在 280 mm×280 mm 照射区内可提供约 8 000 lm 的初始光通量，相当于 350 W 金属卤化物灯 2-2.5 倍的照度水平，适用于需要高照度、高均匀性的工业检测、半导体 AOI、光伏微裂纹识别等场景。
主要性能一

高照度高均匀性的工业检测光纤光导光源设备 的详细介绍

高照度高均匀性的工业检测光纤光导光源设备

日本林时计 H-Repic LA-HLF100 是一款台式小型、高功率、高亮度的可见光光纤光源，采用“LD 激光激发荧光"技术，在 280 mm×280 mm 照射区内可提供约 8 000 lm 的初始光通量，相当于 350 W 金属卤化物灯 2-2.5 倍的照度水平，适用于需要高照度、高均匀性的工业检测、半导体 AOI、光伏微裂纹识别等场景。

主要性能一览

光源方式：LD 激光激发荧光（可见光 380-750 nm）
色温：≈7 500 K，显色性高，适合彩色成像
调光：256 级数字调光（前面板或遥控），调光范围 2-100 %
寿命：激光二极管约 20 000 h（初始光通量降至 40 % 前）
功耗：350 W AC100-240 V 全电压，强制风冷，台式 11 kg

接口与扩展

标准配备 RGB 三色滤光片切换器，可快速更换红/绿/蓝/白光
光纤输出端口兼容林时计全系列光导，可配棒状透镜、环形或线型导光棒，实现点、线、面多种照明形态
提供 0-5 V 外部调光、运行状态、灯寿命指示等接口，便于嵌入自动化检测线

典型应用

PCB & 半导体：AOI 自动光学检测、微裂纹识别，照度提升 18 % 缺陷检出率
光伏：硅片隐裂检测，搭配红外滤片可识别 0.1 mm 级裂纹
通用机器视觉：替代传统 350 W 卤素/氙灯，功耗降低 30 %，维护周期延长 10 倍

选型提示

若需 UV 波段，请选同品牌 LA-410UV（Hg-Xe 灯，300-450 nm，3 500 mW/cm²）
若需更小功率，可选 LA-HLF50（150 W，4 000 lm）

一句话总结：LA-HLF100 用“LD 激光激发荧光"把 8 000 lm 高亮度、7 500 K 高色温、20 000 h 长寿命集成到 11 kg 台式箱，是替代 350 W 金属卤化物灯、提升 AOI/视觉检测照度与均匀性的主力光纤光源。

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主要性能一览

光源方式：LD 激光激发荧光（可见光 380-750 nm）
色温：≈7 500 K，显色性高，适合彩色成像
调光：256 级数字调光（前面板或遥控），调光范围 2-100 %
寿命：激光二极管约 20 000 h（初始光通量降至 40 % 前）
功耗：350 W AC100-240 V 全电压，强制风冷，台式 11 kg

接口与扩展

标准配备 RGB 三色滤光片切换器，可快速更换红/绿/蓝/白光
光纤输出端口兼容林时计全系列光导，可配棒状透镜、环形或线型导光棒，实现点、线、面多种照明形态
提供 0-5 V 外部调光、运行状态、灯寿命指示等接口，便于嵌入自动化检测线

典型应用

PCB & 半导体：AOI 自动光学检测、微裂纹识别，照度提升 18 % 缺陷检出率
光伏：硅片隐裂检测，搭配红外滤片可识别 0.1 mm 级裂纹
通用机器视觉：替代传统 350 W 卤素/氙灯，功耗降低 30 %，维护周期延长 10 倍

选型提示

若需 UV 波段，请选同品牌 LA-410UV（Hg-Xe 灯，300-450 nm，3 500 mW/cm²）
若需更小功率，可选 LA-HLF50（150 W，4 000 lm）

一句话总结：LA-HLF100 用“LD 激光激发荧光"把 8 000 lm 高亮度、7 500 K 高色温、20 000 h 长寿命集成到 11 kg 台式箱，是替代 350 W 金属卤化物灯、提升 AOI/视觉检测照度与均匀性的主力光纤光源

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