专为半导体、液晶面板与导电材料行业的检测需求设计,采用成熟的 4 探针测量原理,可简便且高精度地测量硅晶圆、太阳能电池硅片、LCD 基板、金属薄膜等材料的片电阻与体积电阻率,覆盖从低电阻到高电阻的广泛测量范围。
该仪器搭载智能测量功能,通过电流极性切换抑制误差,配合自动量程、自动调零、样品厚度校正与温度校正功能,大幅提升测量准确性与操作便捷性。设备配备专用的 4 探针探针与试样台(如 RG-5),可直接适配各类基板与薄膜样品;同时支持数据打印与数据连接接口,便于测量数据的导出、记录与追溯,满足生产质量管控与科研数据管理需求。
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