日本興栄 PM-E2 便携式半球发射率测量仪

设备基础规格

1. 测量项目：半球入射半球反射、半球发射率 εH

2. 测量范围：0.05～0.95

3. 传感器波长范围：0.6～42μm（覆盖 300K 黑体辐射能量 95%）

4. 测量不确定度：0.03

5. 单次测量时间：1～3 分钟

6. 标准校准样品：金蒸镀镜面（εH=0.05）、黑色 Kapton 薄膜（εH=0.85）

7. 设备构成：测定部（内置约 60℃黑体炉、镀金积分球、热电堆检测器）、操作控制部

8. 供电：DC12V 1A 适配器，支持电池供电

9. 外形尺寸

   操作部：145×82×32mm

   测定部：125×60×74mm

10. 重量：操作部约 0.2kg，测定部约 0.7kg

11. 保管条件：温度 10～45℃，湿度 50% RH

    
    

核心产品特性

PM-E2 便携式半球发射率测量仪由日本株式会社興栄基于 JAXA 航天科研技术商品化开发，聚焦航天器热设计所需的半球发射率检测需求，区别于普通单向垂直发射率检测设备，可精准采集材料半球方向整体辐射能量数据。仪器采用分体便携设计，操作单元与测定单元相互独立，机身轻巧便于现场取样测试。设备搭载内置黑体炉、内镀金积分球与热电堆检测器，能够在常温环境快速完成样品检测，单次测试仅需 1 至 3 分钟，同时维持 0.03 的优异测量不确定度。测试过程严格控制样品表面温度一致性，规避辐射干扰带来的数据偏差，保障检测结果稳定可靠。整机操作流程简洁，配备基准样品校准功能，支持数据显示与 PC 端存储导出，硬件采购成本相比大型实验室设备更具优势。除标准试样检测外，仪器支持小型样品表面反射性能测试，适配各类薄膜、涂层、板材试样，灵活满足实验室研发、现场来料抽检需求。

适用场景