日本 X‑Loupe 灰尘检测目视工作灯 ITL

日本 X‑Loupe 灰尘检测目视工作灯 ITL日本 X‑Loupe 灰尘检测目视工作灯 ITL

设备基础规格

• 产品版本：ITL Lite、ITL Mk1、ITL Mk2

• 标配光源：白光、绿光；可选配蓝光、琥珀色光

• 调光范围：0%-100% 连续亮度可调

• 照射角度：角度可手动调节

• 散热方式：Lite 带风扇散热；Mk1、Mk2 被动散热无风扇

• 拓展功能：支持外接相机观测计量，可踏板、系统切换光源

• 安装形式：平台式本体，光源盒可换装悬臂支架夹具

• 光场特性：大面积准直光源，照射宽度优于普通同类检测灯

核心产品特性该设备是面向无尘车间的次世代目视检测工作灯，采用特定波长低角度准直光学设计，普通室内照明难以辨识的粘性灰尘颗粒、细微划痕，经过该光源照射后可直观显现，有效解决无尘环境下工件表面缺陷目视识别难题。产品提供三款版本，精简款 ITL Lite 搭载风扇散热，适合长时间连续质检作业，双光源频道可自由切换；基本款 ITL Mk1 采用无风扇被动散热，不会产生气流扰动，适合对空气稳定性有严苛标准的无尘室；进阶款 ITL Mk2 优化光学准直性能，尘埃颗粒检出能力提升一个数量级，针对白色底色工件也可以有效识别微小瑕疵。整机支持 0‑100% 无级亮度调节，照射角度可按需调整，拥有大面积均匀光场，相比市面同类产品照射覆盖宽度更大，可应对 20×20cm 尺寸工件检测。设备预留拓展接口，能够外接相机完成图像采集与计量，也可搭配踏板、控制系统实现光源切换；平台式光源盒还可单独拆装，换装悬臂夹具支架，适配不同工位布局，灵活适配产线、实验室等多种使用场景，满足半导体、制药、精密制造不同等级的检测需求。

适用场景多用于半导体晶圆粘性尘粒检测、晶圆光罩瑕疵检查，也用于玻璃、金属工件表面划痕、脏污检查，机械零部件外观缺陷目视检验，满足 USP<790><1790 > 目视检测相关要求，适配半导体无尘车间、制药行业、生物技术实验室、精密仪器制造、精细印刷等领域。