日本 TSS-5X-3 材料发射率检测仪

日本 TSS-5X-3 材料发射率检测仪

日本 TSS-5X-3 材料发射率检测仪

设备基础规格

• 型号：TSS-5X-3

• 测量波长：2~22μm

• 发射率测量范围：0.00~1.00

• 测量精度：满量程 ±1%

• 测量面积：Φ15mm

• 测量距离：12mm

• 测量环境温度：10~40℃

• 显示方式：数字显示屏

• 电源：AC100-240V，50/60Hz

• 信号输出：0-0.1V 模拟输出

核心产品特性

Japan Sensor TSS-5X-3 发射率测试仪是日本原厂研发的常温专用放射率检测仪器，无需升温加热样品，直接在室温条件下开展检测，避免高温对试样造成损伤，适合热敏涂层、薄膜类样品测试。仪器采用红外反射能量检测原理，2~22μm 宽红外波段，覆盖绝大多数工业材料的红外辐射特征，可精准量化材料表面处理带来的微小差异。设备操作流程简单，探头放置样品表面即可读数，测量速度快，支持模拟信号输出，方便对接产线采集系统。整机集成度高，配套便携收纳箱，实验室与现场检测均可使用。仪器测量稳定，重复性良好，能够区分不同涂层工艺、表面粗糙度带来的发射率变化，为材料散热、隔热设计提供可靠数据。设备适配金属、陶瓷、高分子薄膜、涂料等各类固体试样，广泛用于科研开发与来料品质管控。主机结构稳定，探头防护可靠，长期连续检测也可维持稳定性能，可对接自动化产线实现在线检测，满足从实验室研发到工业化质检的多元需求。

适用场景

适用于半导体材料、航空航天、新能源、材料研发、高校实验室等领域，用于涂料、薄膜、陶瓷、金属基材的红外发射率检测，支撑散热材料、隔热涂层的研发验证与来料质检，也可用于产线上材料表面工艺一致性检测，评估表面改性、镀膜工艺对红外辐射特性带来的变化。