日本 ORIHARA 光学应力畸变测试仪

日本 ORIHARA 光学应力畸变测试仪

日本 ORIHARA 光学应力畸变测试仪

设备基础规格

• 测量范围：0-280nm

• 分解能：3nm

• 测量精度：5nm

• 光源：白色光、单色钠光

• 样品最大尺寸：200*200mm

• 外形尺寸：320400720mm

• 整机重量：18kg

• 电源：AC100V 210W

核心产品特性该款偏光应力仪依托光学原理，可直观观测透明试样内部应力畸变状态，通过色彩与图案呈现材料歪斜分布，便于操作人员实时查看与定量测量。设备搭载双光源切换功能，白色光源与钠单色光源可按需切换，适配不同检测需求。可更换光学滤镜，支持直交尼科尔法、敏锐色板法、塞拿蒙法等多种检测模式。仪器分辨率可达 3 纳米，测量精度 5 纳米，测量范围 0 至 280 纳米，能够捕捉材料细微应力形变。设备样品台可放置最大 200×200mm 试样，整机结构紧凑，自重 18 公斤，便于实验室安置搬运。可检测玻璃、树脂塑料等透明工件，识别生产过程产生的残余应力，避免产品因应力集中发生破损，为产品品质管控提供可靠数据支撑，还可搭配多款标准器配件，拓展校准与检测能力，适配多场景质检需求。

适用场景适用于光学玻璃、强化玻璃、透明塑料板材、树脂透光件的生产质检领域，广泛应用于光学元器件、显示材料、汽车透明件、包装透明材料行业，用于检测产品加工过程产生的残余应力、平面畸变，排查应力缺陷，把控产品品质，也可用于高校、科研院所材料应力相关实验研究。