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台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪

产品名称: 台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪
产品型号: D1-11N系列 1405
产品特点: 台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪
日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405绝缘电阻测试仪 → 再次精炼,一页看懂
定位
台式「Tera-Ohmmeter」= 材料级高阻计,测绝缘电阻 / 漏电流 / 体电阻 / 表面电阻,面向电池隔膜、OLED、PCB、薄膜、电容器等超高阻样品。
硬指标(405型)
电压:1 V – 1 000 V(1 V 步)
电阻:1 kΩ – 10 PΩ(1

台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪 的详细介绍

台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪

台式材料级高阻计超高阻绝缘性能测试仪

日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405绝缘电阻测试仪 → 再次精炼,一页看懂定位台式「Tera-Ohmmeter」= 材料级高阻计,测绝缘电阻 / 漏电流 / 体电阻 / 表面电阻,面向电池隔膜、OLED、PCB、薄膜、电容器等超高阻样品。硬指标(405型)电压:1 V – 1 000 V(1 V 步)电阻:1 kΩ – 10 PΩ(10¹⁵ Ω)电流:0.1 fA – 1 mA精度:≤ ±1 %(≤10 TΩ)采样:最高 1 kHz接口:USB / RS-232 / LAN(选)核心功能① fA 级漏电流(0.1 fA 分辨率)② 自动极性反转 PIV,消除极化误差③ 斜坡扫描 0.1-100 V/s,捕捉击穿 V④ 体/面电阻率自动切换(加环形电极箱)⑤ 同步温湿度记录,一键生成 IEC/ASTM 报告典型应用 & 判定例锂电池隔膜:1 000 V 下 ρv > 1 TΩ·cm薄膜电容:500 V 漏电流 < 1 nAOLED 封装:100 V 漏电流 < 1 pAPCB 基材:表面电阻 > 10¹² Ω/□规格一览尺寸 W260 × D380 × H140 mm,6.2 kg7 英寸触控,中/英/日菜单附 10 GΩ / 1 TΩ 标准电阻,30 s 自校12 个月 JCSS 溯源,符合 JIS C 1302 / IEC 60093 / ASTM D257一句话D1-11N-405 = 材料实验室的“台式 tera-ohmmeter":1 V-1 kV、10 PΩ、0.1 fA,fA 级漏电流、斜坡击穿、体/面电阻率一键完成,专为超高阻绝缘性能测试设计。日本 Musashi 武藏 D1-11N系列 405绝缘电阻测试仪 → 再次精炼,一页看懂定位台式「Tera-Ohmmeter」= 材料级高阻计,测绝缘电阻 / 漏电流 / 体电阻 / 表面电阻,面向电池隔膜、OLED、PCB、薄膜、电容器等超高阻样品。硬指标(405型)电压:1 V – 1 000 V(1 V 步)电阻:1 kΩ – 10 PΩ(10¹⁵ Ω)电流:0.1 fA – 1 mA精度:≤ ±1 %(≤10 TΩ)采样:最高 1 kHz接口:USB / RS-232 / LAN(选)核心功能① fA 级漏电流(0.1 fA 分辨率)② 自动极性反转 PIV,消除极化误差③ 斜坡扫描 0.1-100 V/s,捕捉击穿 V④ 体/面电阻率自动切换(加环形电极箱)⑤ 同步温湿度记录,一键生成 IEC/ASTM 报告典型应用 & 判定例锂电池隔膜:1 000 V 下 ρv > 1 TΩ·cm薄膜电容:500 V 漏电流 < 1 nAOLED 封装:100 V 漏电流 < 1 pAPCB 基材:表面电阻 > 10¹² Ω/□规格一览尺寸 W260 × D380 × H140 mm,6.2 kg7 英寸触控,中/英/日菜单附 10 GΩ / 1 TΩ 标准电阻,30 s 自校12 个月 JCSS 溯源,符合 JIS C 1302 / IEC 60093 / ASTM D257一句话D1-11N-405 = 材料实验室的“台式 tera-ohmmeter":1 V-1 kV、10 PΩ、0.1 fA,fA 级漏电流、斜坡击穿、体/面电阻率一键完成,专为超高阻绝缘性能测试设计。

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