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日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪

产品名称: 日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪
产品型号: sigma-5+(主机)+ RGE-12
产品特点: 日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪
日本 NPS sigma-5 + 电阻率测定仪,采用 20 年以上测量技术,可精准测定硅芯片、太阳能电池探测器的电阻率与薄层电阻,桌面型设计适配半导体研发检测场景。

日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪 的详细介绍
日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪
日本 NPS sigma-5+ 高精度电阻率测定仪,是日本 NPS 专为半导体基板、导电薄膜基板、硅芯片及太阳能电池探测器研发开发的高精度电阻率测量仪器,依托 20 年以上的测量技术积累,可精确评估薄层电阻和电阻率值,是半导体材料研发、生产检测环节的核心质控设备。
设备核心搭配RGE-12 四点探针台RG-5 样品架组成完整测试系统,可实现对硅晶圆、薄膜样品的精准接触与测量。主机配备智能开关功能面板,操作逻辑清晰,支持电流极性切换测量,可有效抑制整流造成的误差,确保测量结果的准确性;搭载自动调零、自动量程功能,测量时自动设置最佳电流,无需人工反复调试,大幅提升检测效率。
设备具备丰富的校正与计算功能:包含样品厚度校正、半导体温度校正、各种温度校正输入功能,可适配不同规格、不同温度环境的样品测试;同时支持平均测量值显示与印刷机平均值计算,数据报告更贴合生产检测需求。机身采用小型桌面型尺寸设计,占地空间小,适配实验室、研发室等多种工作场景,100VAC 标准供电,兼容各类实验室电源环境。
设备支持与数据打印机、数据连接线连接,可快速完成测试数据的导出与存档,方便后续追溯与分析;可选择多种规格样品表,适配不同尺寸、类型的半导体样品,满足从研发验证到产线抽检的全场景需求。广泛应用于半导体硅片生产、导电薄膜研发、太阳能电池探测器性能检测等领域,凭借高精度、宽范围、低操作门槛的特点,成为半导体电阻率测量设备。


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