光切断法自动对焦高度测量显微镜

Name: 光切断法自动对焦高度测量显微镜
Brand: 其他品牌
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产品名称: 光切断法自动对焦高度测量显微镜

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产品特点: 光切断法自动对焦高度测量显微镜，日商精密光学 AF-Micron 光切断法自动对焦高度测量仪，融合光切断成像与自动对焦技术，0.1μm 高精度读数，±1μm 重复精度，可快速测量精密工件台阶高度、表面粗糙度，适配微小空间与复杂形貌检测。

光切断法自动对焦高度测量显微镜 的详细介绍

光切断法自动对焦高度测量显微镜

光切断法自动对焦高度测量显微镜

是日本日商精密光学株式会社推出的新型高精度测量设备，融合光切断 slit 成像与 spot 光成像技术，搭载自动对焦 AF 追踪系统，实现非接触式、高精度的深度、高度、台阶测量，为精密加工件检测提供高效解决方案。

设备通过连续追踪 AF 驱动，可重复进行高精度测量，操作简便快速。利用狭缝成像实时识别测量画面高低，轻松定位测量部位；通过校验狭缝像、斑点光像、电子基准线的中心一致性，有效防止误测，保障数据可靠性。光切断仰角除标准 90° 外，还可根据用途选择 30°、60°、120°，适配不同检测场景。

仪器采用 0.1μm 数字线性标尺读数，±1μm 以内的重复精度，可精准测量机械加工部件、成型品、薄膜、基板等的表面粗糙度、搭载部件高度位置、冲压件、模具等精密加工品，也可完成传统卤素光源显微镜无法测量的试样检测。支持自动 / 手动双模式切换，自动模式下 XY 轴移动台可快速批量测量，手动模式可作为微米级深度高度测量仪使用。

日商精密光学 AF-Micron 光切断法自动对焦高度测量仪凭借非接触式、高精度、快速检测的核心优势，广泛应用于精密制造、模具加工、半导体、3C 电子等领域的质量检测。设备支持规格定制，可根据用户需求调整镜头、狭缝、仰角等参数，提供原厂安装调试、技术支持服务，整机质保 12 个月，长期提供配件供应，保障设备稳定运行。

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