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Photonic Lattice 显微相位差测量仪

产品名称: Photonic Lattice 显微相位差测量仪
产品型号: WPA-micro
产品特点: Photonic Lattice 显微相位差测量仪,是专为显微视野设计的高精度光学检测设备,通过三波长测量技术拓展位相差测量范围至 0~3500nm,可实现结晶配向分布评价,支持金属等不透明样品的反射评估,适配显微级样品的相位差、应力、结晶取向检测,是材料分析、科研实验室的专业仪器。

Photonic Lattice 显微相位差测量仪 的详细介绍

Photonic Lattice 显微相位差测量仪

Photonic Lattice 显微相位差测量仪

核心技术与性能优势

WPA-micro 通过测量三波长的屈折 / 位相差分布,突破传统显微测量局限,将位相差测量范围拓展至 0~3500nm,可在显微镜视野中完成高精度屈折 / 位相差测量。设备搭载三波长合成测量技术,有效消除单波长测量误差,获得更全面、准确的样品相位差分布数据,位相差重复再现 σ<0.1nm,轴方位 σ<0.1°,确保检测结果稳定可靠。

专属显微检测能力

设备专为显微级样品设计,可在显微镜视野中数据化晶体取向分布,实现结晶配向分布评价,同时支持金属等不透明样品的反射评估,适配金属、晶体、薄膜等各类显微样品的检测需求。配套显微镜可选择奥林巴斯或尼康品牌,满足不同用户的使用习惯与检测需求,物镜覆盖 x2 至 x50 多倍率,适配不同尺寸显微样品的检测。

应用领域广泛

设备适用于多个行业的检测场景:
  • 材料科研:金属、晶体等样品的结晶配向、应力分布分析;

  • 薄膜行业:各类薄膜的显微级厚度、相位差均匀性检测;

  • 电子行业:半导体、芯片等微小部件的应力、相位差分析;

  • 光学材料:水晶、玻璃等透明材料的显微级光学特性检测。

操作与维护

设备配套 WPA-View 专用软件,操作界面直观,可实时查看测量数据、生成分析报告;支持连续 / 间歇测量,适配不同检测流程;设备结构稳定,维护简单,GigE+RS-232C 双接口实现数据高速传输与电机精准控制,配套台式电脑可直接完成检测操作,无需复杂调试。丰富的可选功能,可根据检测需求灵活定制,满足不同行业的个性化检测需求。



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