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Photonic Lattice 相位差测量仪

产品名称: Photonic Lattice 相位差测量仪
产品型号: WPA-300 / WPA-300-L
产品特点: Photonic Lattice 相位差测量仪,是 WPA-200 系列的升级款,通过三波长测量技术实现大位相差面分布测量,传感器分辨率提升 5 倍,可精准捕捉细微位相差变化,适用于薄膜、透明树脂、光学材料的相位差、应力、厚度检测,是高精度光学检测的专业仪器。

Photonic Lattice 相位差测量仪 的详细介绍

Photonic Lattice 相位差测量仪

Photonic Lattice 相位差测量仪

核心技术与性能升级

WPA-300 系列在保留 WPA-200 系列大位相差测量性能的基础上,将偏光图像传感器的分辨率提升 5 倍,可实现更清晰的测量,精准捕捉细微的位相差变化并数据化。设备通过 3 个波长(523nm、543nm、575nm)的测量数据比较计算,突破传统测量局限,实现 0~3500nm 大位相差的面分布测量,适配薄膜、透明树脂等产品的检测需求。

高精度测量保障

设备测量精度位相差重复再现 1σ<0.1nm,轴方位 1σ<0.1°,确保检测结果稳定可靠;数据处理选项可直接实现应力值换算,无需额外计算,大幅提升检测效率。三波长合成测量技术,可有效消除单波长测量的局限性,获得更全面、准确的样品相位差分布数据。

多型号适配全场景

系列包含两款型号,覆盖不同尺寸样品的检测需求:
  • WPA-300:小型台式,适合实验室、小尺寸样品检测,重量仅约 15kg,安装便捷;

  • WPA-300-L:中型款,视野尺寸更大,适配中等尺寸样品,兼顾精度与效率,满足工业生产线检测需求。

应用领域广泛

设备适用于多个行业的检测场景:
  • 光学材料:水晶、玻璃、透明树脂等相位差、应力检测;

  • 薄膜行业:各类薄膜厚度、相位差均匀性检测;

  • 电子行业:仪表板、胶卷等产品的应力、相位差分析;

  • 科研实验室:材料光学特性研究、应力分析等。

操作与维护

设备配套 WPA - 视图软件,操作界面直观,可实时查看测量数据、生成分析报告;支持连续 / 间歇测量,适配不同检测流程;设备结构稳定,维护简单,GigE 接口实现数据高速传输,配套台式电脑可直接完成检测操作,无需复杂调试。丰富的可选功能,可根据检测需求灵活定制,满足不同行业的个性化检测需求。


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