日本 位相差椭圆偏振测量仪
日本 位相差椭圆偏振测量仪
超宽量程覆盖:突破传统设备量程限制,从 2nm 以下的超低位相差到 20000nm 的超高位相差,一台设备满足全场景测量需求
LED 光源革命:采用长寿命 LED 光源,告别传统汞灯的定期更换,设备维护成本大幅降低,同时提升测量稳定性
精度全面提升:方位角分辨率提升至 0.001°,位相差重复性提升 3 倍以上,确保测量数据的精准性与长期一致性
紧凑型设计:在不损失性能的前提下,设备体积大幅缩小,适配实验室空间紧张的场景
位相差检测:精准测量光学薄膜、塑料、玻璃的双折射与内应力,为材料品质管控提供数据支撑
椭圆偏振分析:HBPR 型号可完成椭圆偏振光测量,精准计算薄膜厚度、折射率等光学参数,适配半导体、光学涂层行业
分光测量:SPC 型号支持 400~800nm 全光谱分光测量,可分析样品的光谱特性,适配复杂多层膜结构分析
斜入射测量:支持 30~40° 斜入射测量,适配偏光片等特殊样品的检测需求
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