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日本 位相差椭圆偏振测量仪

产品名称: 日本 位相差椭圆偏振测量仪
产品型号: KOBRA-HB 系列
产品特点: 日本 位相差椭圆偏振测量仪,是新一代高精度光学测量设备。采用 LED 光源与优化光学系统,实现 2nm~20000nm 超宽位相差测量范围,搭配超高精度方位角与位相差检测,支持椭圆偏振光分析,全系列覆盖从基础位相差检测到全光谱分光测量,广泛应用于显示、半导体、光学薄膜等行业的品质检测与研发。

日本 位相差椭圆偏振测量仪 的详细介绍

日本 位相差椭圆偏振测量仪

日本 位相差椭圆偏振测量仪

核心技术与性能优势

KOBRA-HB 系列基于王子计测的偏振光测量技术,相比传统 W 系列,在光学系统上进行了全面升级:
  • 超宽量程覆盖:突破传统设备量程限制,从 2nm 以下的超低位相差到 20000nm 的超高位相差,一台设备满足全场景测量需求

  • LED 光源革命:采用长寿命 LED 光源,告别传统汞灯的定期更换,设备维护成本大幅降低,同时提升测量稳定性

  • 精度全面提升:方位角分辨率提升至 0.001°,位相差重复性提升 3 倍以上,确保测量数据的精准性与长期一致性

  • 紧凑型设计:在不损失性能的前提下,设备体积大幅缩小,适配实验室空间紧张的场景

全场景测量能力

  • 位相差检测:精准测量光学薄膜、塑料、玻璃的双折射与内应力,为材料品质管控提供数据支撑

  • 椭圆偏振分析:HBPR 型号可完成椭圆偏振光测量,精准计算薄膜厚度、折射率等光学参数,适配半导体、光学涂层行业

  • 分光测量:SPC 型号支持 400~800nm 全光谱分光测量,可分析样品的光谱特性,适配复杂多层膜结构分析

  • 斜入射测量:支持 30~40° 斜入射测量,适配偏光片等特殊样品的检测需求

操作与维护

设备配套专业分析软件,操作界面直观,可一键生成测量报告;全自动化测量流程,无需专业培训即可快速上手。LED 光源设计使设备维护成本极低,仅需定期清洁光学窗口,即可保证长期稳定运行,适配 24 小时连续检测需求。


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