日本 FLOVEL 双面检测显微镜系统
日本 FLOVEL 双面检测显微镜系统
日本 FLOVEL TOMOS-50R1 是专为电子元器件、光学器件打造的广视野双面检测显微镜系统。产品采用低倍显微镜与环形照明结合的设计,在 1 倍视野下可实现约 9mm×7mm 的大视野双面同步拍摄,一次操作完成工件正反两面的全貌检测,大幅提升检测效率,适合批量电子元器件的外观与位置检测。
系统搭载双 200 万像素相机(彩色 / 黑白可选),支持环形照明与同轴照明同时安装,可适配 10 倍、20 倍等多倍率物镜,满足不同检测场景的成像需求;内置光轴补偿、倍率补偿、相机角度补偿等功能,精准校正双面检测误差,保障测量结果的可靠性。XY 轴 ±10mm 行程、最大 30mm 调焦范围,适配不同尺寸工件的检测需求。
设备功能丰富,可完成电子元器件表面瑕疵检查、印刷物 / PCB 对齐标记偏移测量、LED 芯片 / 透镜位置偏移检测等,支持双面图像合成显示,直观呈现正反面对位情况;同时提供软件、样品夹定制服务,可根据工件形状、材料定制专属检测方案,适配特殊工件的检测需求。
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