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日本 FLOVEL 双面测量显微镜系统

产品名称: 日本 FLOVEL 双面测量显微镜系统
产品型号: TOMOS-50
产品特点: 日本 FLOVEL 双面测量显微镜系统,采用双 CMOS 相机同步拍摄,可一次完成工件正反两面的位置偏移、尺寸测量,±0.2μm 超高精度,适配水晶振子、MEMS、半导体元器件等精密检测,是电子元器件质量管控的理想设备。

日本 FLOVEL 双面测量显微镜系统 的详细介绍

日本 FLOVEL  双面测量显微镜系统

日本 FLOVEL  双面测量显微镜系统

日本 FLOVEL TOMOS-50 是专为电子元器件、精密零件打造的紧凑型双面位置偏移测量显微镜系统。产品搭载正立 + 倒立双 1/1.8 型 CMOS 相机,300 万像素成像,可同步拍摄工件正反两面,一次操作完成双面位置偏移、尺寸测量,替代传统分步检测,大幅提升检测效率。


系统实现 ±0.2μm 以下的重复测量精度,通过软件自动校正正反光轴,消除人工操作误差,保障测量结果的一致性与可靠性;支持 5/10/20/50 倍多倍率物镜切换,100mm×100mm XY 行程,适配不同尺寸工件检测;提供落射、透射、混合照明模式,满足不同材质、结构工件的清晰成像需求。


设备内置丰富测量功能,支持手动 / 自动尺寸测量、位置偏移检测、边缘自动提取、双面图像合成显示,直观的软件界面操作便捷,自动测量功能可消除人为误差,适合批量检测。机身采用紧凑型设计,可独立使用,也可作为模组嵌入自动化产线,适配工厂自动化检测需求。


TOMOS-50 广泛应用于水晶振子、MEMS、引脚连接器、半导体电子部品等精密元器件的双面位置偏移、尺寸检测,同时可用于电子纸、过滤器等的双面同步观察,是电子制造、精密加工领域质量管控的核心检测设备,帮助企业提升检测精度与生产效率。



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