设备支持 6 英寸与 8 英寸晶圆规格,对应不同功率的加热模块,整体结构紧凑,便于实验室与产线安装部署。无论是器件研发阶段的特性验证,还是量产阶段的可靠性筛选,该装置都能提供稳定、高效的测试支持,是半导体行业热应力测试的理想设备。
快速升降温设计,室温↔300℃仅需 15 分钟,大幅提升测试效率
Triaxial 结构热夹具,高温下低电流 / 高电阻 / 低电容信号测量稳定
Mo+Ni 镀层夹具顶面,与硅材料热膨胀系数匹配,导电性稳定
吸气式冷却系统,粉尘排放低,减少测试环境干扰
支持远程有线控制,配备 GP-IB/RS232C 接口,适配自动化测试
安全回路设计,瞬停后电源不会自动重启,保障设备安全
半导体晶圆器件热应力测试与电温度特性评估
芯片可靠性验证与筛选测试
器件研发阶段的高温特性分析
半导体封装测试环节的批量热循环测试
| 项目 | 规格说明 |
|---|---|
| 型号 | AT-6600X |
| 设备类型 | 热插拔控制装置(热电偶控制装置) |
| 适用晶圆尺寸 | 6 英寸 / 8 英寸 |
| 温度控制范围 | +60℃~+300℃ |
| 温度控制方式 | 时分制 PID 控制 |
| 温度传感器 | Pt100 测温电阻体 |
| 温度分辨率 | 0.1℃ |
| 升降温速度 | 室温→300℃:约 15 分钟;300℃→28℃:约 15 分钟 |
| 加热功率 | 6 英寸:450W;8 英寸:750W |
| 冷却方式 | 空冷(吸气电机排气式) |
| 控制接口 | GP-IB(IEEE488)、RS232C |
| 供电规格 | AC100V,50/60Hz(6 英寸:760/860VA;8 英寸:1060/1160VA) |
| 设备尺寸 | 温度控制部:430×400×165mm;吸气电机单元:260×340×265mm |
| 设备重量 | 温度控制部:约 7kg;吸气电机单元:约 25kg;热夹具:6 英寸约 3.5kg/8 英寸约 7kg |
| 安全配置 | 漏电 / 过电流切断器、电源自我保持回路 |
| 夹具结构 | Triaxial Type 结构,顶面 Mo+Ni 镀层处理 |
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