日本 TAKANO 面板精密外观检测仪

设备基础规格

1. 解析精度：最高 3μm / 像素，稳定检出 3μm 及以上细微缺陷

2. 成像相机：自研传感器相机，可选 16000 像素 / 7400 像素两种规格

3. 照明系统：高亮度 LED 光源，配套各工序专用光学滤波片

4. 输送模式：自由滚筒、气浮滑块、线性电机台架三种可选

5. 显微单元：5~50 倍光学倍率，搭载带追踪高速自动对焦

6. 检测节拍：5μm 解析工况下单片检测 30 秒以内

核心产品特性

1. GFC 专属运算算法，捕捉低对比度微小瑕疵

   内置 GFC 图像运算逻辑，除明显针孔、断线外，还可识别浅污渍、浅划痕等低对比度缺陷，配套可选污渍检测功能，全面管控薄膜涂层不良。

2. 自研线扫相机 + 高精度镜头，高速稳定成像

   自研高线频线扫相机搭配定制高分辨率镜头，高速图像处理单元同步运算，大幅缩短单片扫描时长，长时间连续检测不易误判漏检。

3. 兼容全世代显示面板，覆盖 G10.5 产线

   具备大尺寸基板成熟检测实绩，适配中小至 G10.5 超大液晶 / OLED 基板，一套设备可切换 CF、TFT、触控基板多品类物料检测。

4. 多输送方案适配产线，无尘工况友好

   滚筒、气浮、线性电机三种输送结构可选，气浮方案可减少基板表面摩擦划伤，适配洁净无尘显示工厂流水线对接。

5. 高速图像传输，实时同步缺陷档案

   搭载高速图像传输选配功能，扫描同步上传缺陷坐标、实拍图片、不良统计报表，便于后端工艺复盘与品质数据追溯。

适用生产场景