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日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置

产品名称: 日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置
产品型号:
产品特点: 日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置
TE 系列采用悬臂梁共振法,针对 0.1mm 以下薄箔、细线类低刚性试样开发,配备专用夹具完成杨氏模量与内部摩擦测试。可兼容 JE‑RT 控制器,切换模块即可开展测试,覆盖宽温度区间试验需求。

日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置 的详细介绍
日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置

日本 KMTL TE 系列杨氏模量测定装置


设备基础规格
‑测量项目:杨氏模量、内部摩擦
‑测量样品:等方性材料
‑样品形状:短册状板厚 0.03‑0.5mm× 板幅 3‑10mm× 长度 20‑50mm;棒状直径 0.03‑0.5mm× 长度 20‑50mm
‑测量方式:片持共振式固有振动法
‑加振方式:非接触静电加振
‑检测方式:非接触位移计
‑共振频率:10Hz‑200Hz
‑机型:TE‑RT 室温款;TE‑HT 室温~500℃;TE‑LT‑180℃~ 室温;TE‑VLT4K~ 室温;TE‑LHT‑180℃~300℃

‑拓展:可共用 JE‑RT 控制主机


该设备专门解决极薄箔材、细金属线材无法使用自由共振法测试的难题,依靠悬臂梁测试结构,搭配专用夹具完成数十微米级别试样的弹性性能检测。设备延续非接触静电激励方案,避免夹具接触带来的测量干扰,保障微小试样数据稳定。已有 JE‑RT 控制器的用户仅需添置 TE 测量单元,切换开关即可使用,降低实验室设备采购成本。机型覆盖室温、高温、低温、超低温等多种工况,可模拟不同温度环境下材料弹性变化。试样尺寸适配薄板与细线材,部分特殊材质样品可根据实际情况放宽尺寸条件,设备操作步骤简洁,可输出可靠的共振测试曲线,为材料研发提供完整的试验数据支撑。


适用于高校科研院所、新材料企业、金属箔材及微细线材生产厂商,开展微米级薄板细线杨氏模量、内部摩擦检测,高低温环境下材料弹性性能评估,新材料配方研发验证,原材料来料性能检测,金属薄膜、贵金属线材力学性能评价等试验场景。


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