产品资料
日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置
产品名称: 日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置
产品型号: LSF‑AR0001
产品特点: 日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置该设备为大颗粒可视化检查照明装置，依托无影灯与光干涉技术，可凸显镜面工件划痕、微粒、裂纹等缺陷，照射范围大，适配半导体晶圆等工件外观检测作业。
日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置 的详细介绍
日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置
日本 SYNQROA L‑FRONT 检查照明装置
- 工作电流：2A
该装置借鉴医疗无影灯技术，实现 360 度0死角检测，操作人员无需调整别扭姿势即可完成检测作业。搭配 PHASERAY 光干涉技术，能够只将工件表面缺陷、杂质进行凸显，降低合格基体表面的反光干扰。设备照射覆盖面积大，最大可适配 Φ400 尺寸工件，面对不同尺寸被测件，无需频繁挪动设备本体，简化检测工位布局。对比普通 LED 光源，该设备弱化工件表面强光反射点，划痕、崩角、指纹、微粒混入物、灰尘等微小问题更容易被识别识别。整机体积小巧轻便仅 2kg，自带便携把手，便于工位挪动安装，功耗控制在 80W，可长期稳定持续工作。摆脱传统 LED 光源繁琐的位置调试工序，优化外观检测工序，降低人工漏检概率，助力产品品质管控。
适用场景
主要用于半导体晶圆镜面工件外观检测，也可用于各类镜面材质零部件的划痕、孔洞、裂纹、微粒杂质检查，广泛应用于洁净车间、半导体制造、光学零部件加工等场景，可用于人工目视检查工位，辅助作业人员快速识别工件表面各类微小缺陷。
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