日本 KYOWA DMo-702WA 全自动接触角测量仪日本 KYOWA DMo-702WA 全自动接触角测量仪
设备基础规格
摄像帧率:2700 帧 / 秒
测量项目:静态接触角,动态接触角,前进后退接触角,界面张力,滑落角(选配)
配套软件:FAMAS 多功能界面分析软件
载台配置:旋转自动载台,支持样品多点全自动测量
控制方式:电脑软件全自动控制,自动滴液、液滴识别
分析理论模型:Owens-Wendt、Kaelble-Uy、北崎 - 畑、Wu、酸碱法共 5 种
统计功能:韦尔奇 t 检验,可选择 5%、1% 显著性水平
数据输出:支持导出表格、Wordpad 报告文档
核心产品特性设备搭载 FAMAS 多文档接口分析软件,自带二维数据表,可录入样品名称,自动汇总 10 组测量数据,同步展示平均值与标准偏差,每完成一次样品测量自动刷新数据。软件内置韦尔奇 t 检验功能,两组样本数量不等、方差不一致的条件下,依然可以判定数据之间是否存在显著性差异,满足科研与品质比对需求。支持实时图像曲线展示,可自由框选数据区间进行导出,一键生成简易检测报告。仪器可实现自动液滴生成、滴定识别,旋转载台能够完成样品多点连续检测,降低人工操作带来的误差。可选配滑落角测量模块,测量前进接触角与后退接触角,软件会根据检测液体数据库,自动计算固体材料的表面自由能,支持 5 种经典理论模型自由切换。高速相机可捕捉快速变化的液滴形态,既可完成长时间动态接触角监测,也可捕捉 1 秒以内快速变化的界面现象,可选配温度、湿度控制模块,模拟不同环境下样品表面润湿特性。
适用场景适用于半导体晶圆、光学膜、高分子材料、金属板材、涂层、油墨、生物材料等领域,用于评估材料表面润湿性、粘接性能、清洁度验证。广泛用于材料研发、表面改性工艺验证、来料质检、产品表面污染检测,满足高校实验室、新材料企业、半导体工厂的接触角、表面自由能、滑落角测试需求。
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