薄膜膜厚組成X线密度测定装置

薄膜膜厚組成X线密度测定装置

薄膜膜厚組成X线密度测定装置

膜厚测量、密度测量、组成比测量等可以使用X射线进行测量。
可以根据测量用途选择相应的X射线单元。
在大气中进行测量，装置尺寸约为1m²，具有维护性和成本性能高的
产品。膜厚测量、密度测量、组成比测量等可以使用X射线进行测量。
可以根据测量用途选择相应的X射线单元。
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产品。