日本 TAKANO HAWKEYES ELITE 薄膜检测仪

设备基础规格

1. 走膜速度：100 米 / 分钟（20μm 解析）、200 米 / 分钟（40μm 解析）

2. 成像像素：8000 像素、16000 像素两种线性相机可选

3. 工控配置：FA 工业规格控制统计专用工控机

4. 检测缺陷下限：最小 5μm 细微瑕疵稳定检出

5. 运行模式：卷对卷在线式、离线单张机型可定制

6. 软件功能：缺陷判定、噪声抑制、缺陷坐标报表、趋势统计、缺陷图谱显示

核心产品特性

1. 双机型灵活配置，适配不同产线布局

   支持卷对卷连续在线检测，直接接入薄膜涂布、分切产线；也可选用离线单张检测机型用于实验室抽检、小批量试产，系统模组通用，改造灵活。

2. 自研成像相机搭配多算法并行识别

   搭载自主开发线性成像相机，同步运行多套图像处理算法，单次扫描同步捕捉黑点、姆拉、纵向横向条纹、凹凸异物、针孔等各类缺陷，降低漏检概率。

3. 高速走膜同时保持精细解析能力

   200m/min 高速走膜工况下仍可实现 40μm 解析，低速 100m/min 可达 20μm 高精度扫描，兼顾大规模量产效率与细微瑕疵管控需求。

4. 全品类薄膜通用，覆盖多行业生产检测

   兼容光学偏光膜、电子 CCL/DFR 绝缘膜、锂电隔膜金属箔、TAC/PET/PI 基材薄膜，一套设备可切换多品类物料检测，减少产线设备投入。

5. 数据统计功能，便于制程改善

   自动生成缺陷坐标清单、缺陷实拍图、不良趋势报表，支持缺陷地图可视化展示，可根据客户需求定制界面、拓展功能，为涂布工艺优化提供数据支撑。

适用生产场景