日本 TAKANO HAWKEYES ONE 薄膜检测仪

设备基础规格

1. 走膜速度与解析：50m/min（5μm）、100m/min（10μm）、200m/min（20μm）

2. 成像像素：8000 像素、16000 像素线性相机可选

3. 工控配置：FA 工业规格专用工控机

4. 识别功能：AI 自动缺陷分类、多通道图像并行处理

5. 光学配置：可搭配多种专用照明光学系统

6. 软件功能：缺陷判定、噪声抑制、缺陷坐标报表、趋势统计、缺陷图谱可视化

核心产品特性

1. 适配超高速产线，细微瑕疵稳定检出

   自研线性相机大幅提升扫描解析力，200m/min 高速走膜仍可达 20μm 精度，低速工况最小识别 5μm 微小缺陷，适配高速涂布、分切量产线。

2. AI 智能缺陷分类，减少人工复检

   搭载专属 AI 识别算法，实时区分黑点、姆拉、条纹、针孔、凹凸异物等不同瑕疵，自动归类，简化后端质检人工工作量。

3. 多算法并行处理，全类型薄膜缺陷全覆盖

   多重图像处理同步运算，同时捕捉点状、线状、膜层厚薄不均、气泡、划痕等缺陷，兼容各类涂布工艺带来的不良类型。

4. 多行业薄膜通用，光学锂电电子均可使用

   适配光学偏光膜、CCL/DFR 电子干膜、锂电隔膜金属箔、TAC/PET/PI 基材薄膜，一套设备切换多种物料检测。

5. 人性化操作界面，完整制程数据追溯

   可视化操作界面，直观查看缺陷分布图、实拍图像、不良趋势报表，支持功能定制，完整留存检测数据用于工艺优化。

适用生产场景