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日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置

产品名称: 日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置
产品型号:
产品特点: 日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置
KMTL CCI 系列 CC‑RT 采用 RUS 超声共振法,可测试数毫米长方体单晶试样,获取弹性刚度 Cij、杨氏模量、刚度系数、泊松比参数,适配各向异性单晶样品,共振测量区间 300kHz‑2.0MHz。

日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置 的详细介绍
日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置

日本 KMTL CC‑RT 弹性常数测量装置


设备基础规格
‑测量项目:弹性模量、杨氏模量、刚度、泊松比
‑适配样品:等方晶、立方晶、六方晶、正方晶单晶材料
‑样品规格:5mm 角左右长方体试样
‑测量原理:压电共振式固有振动法(RUS 超声共振法)
‑加振方式:压电加振
‑检测方式:压电传感器检出

‑共振频率范围:300kHz~2.0MHz

‑同系列机型:CC‑RT 室温型、CC‑HT 高温型、CC‑LT 低温型、CC‑LHT 高低温复合型


该套装置依托压电共振 RUS 超声共振技术开展检测,将毫米级长方体试样夹持在驱动压电元件与检出压电元件中间,对样品施加振动激励,采集样品 8 类振动模式输出的共振信号,通过逆解析运算求解 36 组弹性刚度 Cij 参数。设备配套计算机系统完成频率图谱采集、数据运算与结果输出,无需对样品施加外力载荷,依靠样品自身固有振动完成力学参数解析。整机支持小尺寸单晶试样检测,弥补大样品无法开展测试的局限,同系列拓展机型可覆盖高温、低温、高低温复合工况,满足不同温度环境下材料弹性性能研究,设备运算逻辑严谨,输出多维度弹性相关数据,为新材料研发、晶体材料性能评估提供可靠的数据支撑。


可用于单晶新材料研发、晶体材料力学性能评估、高校科研实验室材料物性分析、半导体晶体物性检测、无机功能材料性能表征等领域,适合材料研究所、高校材料实验室、半导体材料企业开展样品弹性常数、杨氏模量、泊松比相关测试工作。


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