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日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置

产品名称: 日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置
产品型号:
产品特点: 日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置
KMTL CCII 系列采用 EMAR 电磁超声共振法,非接触激发样品振动,测定弹性刚度 Cij,换算杨氏模量、刚度模量、泊松比,支持数毫米小样品,可测试单晶与多晶材料,共振区间 300kHz‑2.0MHz。

日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置 的详细介绍
日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置

日本 KMTL CCII‑RT 弹性常数测量装置


设备基础规格
‑测量项目:弹性常数、弹性模量,可换算杨氏模量、刚度模量、泊松比
‑测量样品:等方性多晶、立方晶、六方晶、正方晶单晶
‑样品形状:5mm 角左右长方体或者圆柱体试样
‑测量方式:电磁超声波共振(EMAR)固有振动法
‑加振方式:静磁场搭配动磁场
‑振动模式:膨胀收缩振动、扭转振动
‑检测方式:非接触接收线圈
‑共振频率范围:300kHz~2.0MHz

‑同系列机型:CCII‑RT 室温型、CCII‑HT 高温型(室温~1000℃)


整套设备依靠 EMAR 电磁超声共振原理开展检测,借助磁铁产生静磁场、线圈输出动磁场,以磁歪力驱动样品产生自由振动,全程无需接触试样表面,可选择性激发 8 种不同振动模式,采集对应共振频率信号,代入矩阵公式解析得到弹性刚度 Cij 全套参数。针对陶瓷这类非磁性样品,对样品做特殊涂层处理后即可完成检测,既可以解析立方晶简单晶体结构,也能够应对对称性偏低的复杂晶体系统。设备搭配电脑完成图谱采集、数据运算与结果输出,对试样不会产生外力损伤,适配毫米级小型试样,CCII‑HT 高温机型拓展高温工况测试能力,满足高温环境下材料弹性性能研究,给新材料开发、晶体物性解析提供可靠测试数据。


适用于高校材料实验室、材料科研院所、半导体晶体企业、陶瓷新材料厂商,开展单晶多晶材料物性表征、高温环境弹性性能研究、新材料力学参数评估、小尺寸试样弹性常数检测等相关测试工作。


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