美国 D&S AE1 RD1 半球发射率测量仪

美国 D&S AE1 RD1 半球发射率测量仪美国 D&S AE1 RD1 半球发射率测量仪

设备基础规格

• 测量指标：半球发射率，模拟 65℃（150℉）下总半球发射率

• 重复性：±0.01 发射度单位

• 预热时间：约 30 分钟

• 单次测量时长：一分半钟

• 输出特性：电压输出与发射率近似线性

• 配套组件：AE1 发射率探头 + RD1 数字电压表

• 标准依据：ASTM C1371、ISO 相关规范

• 可选配件：小面积样品适配器、非标曲面样品定制适配器

核心产品特性D&S AE1 RD1 半球发射率测量仪是专门用于材料半球发射率检测的精密仪器，整机由 AE1 发射率传感探头与 RD1 数字缩放电压表组成，检测流程简单易上手。仪器检测器采用电加热结构，检测过程无需对样品进行升温处理，也不需要额外采集样品温度，简化试验步骤，减少温度带来的操作误差。设备测量重复性可达 ±0.01 发射度单位，数据稳定可靠，满足材料研发与质检的精度要求。仪器开机预热约 30 分钟后，每 90 秒即可完成一次样品读数，检测效率高，适合批量样品测试。设备支持选配多种适配器，既可检测小面积试样，也可定制适配器用于不规则、非平面样品检测，适配更多类型试件。电压输出信号和发射率近似线性关系，读数直观清晰，配套 RD1 数字电压表，数值读取方便。相较于同类型进口发射率检测设备，该款仪器具备良好的性价比，同时配套的线上技术资料库，便于操作人员查阅参考，符合 ASTM C1371 标准试验要求，检测结果具备合规性，可用于材料性能报告出具。设备结构紧凑，安装调试简单，维护工作量低，长期稳定运行，满足实验室常态化测试需求。

适用场景广泛应用于保温材料、涂层、薄膜、金属表面、航天航空材料、建筑节能材料等领域，用于材料红外半球发射率的实验室检测与来料质检，适用于材料研发实验室、第三方检测机构、高校科研院所、保温涂料生产企业，依据 ASTM C1371 标准完成发射率性能评定。