日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置

Name: 日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置
Brand: 其他品牌
Price: 1113 CNY
Availability: InStock

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产品名称: 日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置

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产品特点: 日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置
该装置可同步采集 Kerr 效应磁滞回线与磁畴图像，依靠切换机构兼容面内、垂直磁化两类试样，物镜倍率、激光波长、施加磁场均可按需调整，也可承接对外测试观测业务。

日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置 的详细介绍

日本 NEOARK 克尔环磁区同步评估装置

设备基础规格

‑测量方向：面内、垂直方向

‑使用光源：半导体激光器、白光源，激光波长可协商定制

‑空间分辨率：＜Φ2μm（搭配 50 倍物镜条件下）

‑最大印加磁场：10kOe（1T），可协商 20kOe 等磁场规格

‑检测输出：Kerr 效应滞后环、磁畴图像同步获取

‑附加服务：支持样品委托测试、磁畴观察

设备将磁滞回线采集与磁畴成像功能集成一体，打破传统设备只能单独做曲线测试或者单独观测磁畴的局限，同一套试样无需更换工位，就可以同步拿到磁性数值曲线与微观磁畴形貌图像，方便科研人员直接关联宏观磁性能与微观磁畴结构。内置切换机构，轻松完成面内磁化材料与垂直磁化材料的测量切换，覆盖多数磁性薄膜、磁材试样的检测需求。光源、物镜倍率、外加磁场都可以根据客户样品工况进行调整，适配多样化的实验方案。整机搭载减震平台，降低外界振动对微观成像的干扰，保障微米级空间分辨率，配套专业软件完成数据存储、图像显示与曲线输出，既适合实验室常态化上机测试，也支持外来样品委托检测服务，降低前期设备投入门槛。

适用于高校材料学院、磁学相关科研院所、磁性薄膜研发企业、磁存储材料研发单位，用于磁性材料基础研究，磁畴微观形貌观测，磁滞回线同步采集，面内 / 垂直磁化薄膜性能评估，新材料研发阶段的样品比对测试，也可承接外部样品委托测量与磁畴观察工作。

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