日本 NEOARKμKerr 环测量装置
‑附加服务:提供样品委托测试测量服务
设备专为图案化磁性薄膜开发微米级局部磁滞回线检测能力,无需复杂真空环境,在空气环境中就可以开展测试,简化样品前处理流程,缩短单次实验周期。依靠手动切换机构灵活切换面内与垂直磁化两种测量模式,适配不同磁膜试样的检测需求。搭配半导体激光光源,光源波长、物镜倍率、外加磁场都可以结合样品实际工况做定制调整。可加装电动位移平台,实现样品全域映射测量,获取样品不同位置的局部磁性能分布数据。配套专用软件完成滞回曲线采集、数据存储与结果输出,整机结构紧凑,适配实验室台面部署,既能够常态化上机做样品测试,也可对外承接委托检测,降低前期实验设备投入成本。
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