产品资料
首页 >>> 产品中心 >>> 仪器仪表 >>> 测量仪 >>> 日本 NEOARKμKerr 环测量装置

日本 NEOARKμKerr 环测量装置

产品名称: 日本 NEOARKμKerr 环测量装置
产品型号:
产品特点: 日本 NEOARKμKerr 环测量装置
该装置针对图案磁性膜完成微米级局部滞回环检测,手动切换即可实现面内、垂直方向测量,空气环境下简易操作快速完成磁光特性评估,可选配电动平台实现映射测量,同时提供样品委托测试服务。

日本 NEOARKμKerr 环测量装置 的详细介绍
日本 NEOARKμKerr 环测量装置

日本 NEOARKμKerr 环测量装置


设备基础规格
‑测量方向:面内、垂直方向,手动切换
‑使用光源:半导体激光,激光波长可协商定制
‑空间分辨率:<Φ2μm(50 倍物镜,垂直评估工况),物镜倍率可协商
‑最大印加磁场:垂直 15kOe(1.5T)、面内 10kOe,可协商 20kOe 等磁场规格
‑扩展选项:支持映射测量、电动平台选配

‑附加服务:提供样品委托测试测量服务


设备专为图案化磁性薄膜开发微米级局部磁滞回线检测能力,无需复杂真空环境,在空气环境中就可以开展测试,简化样品前处理流程,缩短单次实验周期。依靠手动切换机构灵活切换面内与垂直磁化两种测量模式,适配不同磁膜试样的检测需求。搭配半导体激光光源,光源波长、物镜倍率、外加磁场都可以结合样品实际工况做定制调整。可加装电动位移平台,实现样品全域映射测量,获取样品不同位置的局部磁性能分布数据。配套专用软件完成滞回曲线采集、数据存储与结果输出,整机结构紧凑,适配实验室台面部署,既能够常态化上机做样品测试,也可对外承接委托检测,降低前期实验设备投入成本。


适用于高校磁学实验室、材料科研院所、磁性薄膜研发企业、磁存储器件开发单位,用于图案磁性薄膜局部磁光特性评估,微区磁滞回线测试,面内以及垂直磁化样品性能比对,器件不同位置磁性能映射扫描,新材料工艺开发阶段样品验证,也可对外开展样品委托测量业务。


产品留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

深圳市秋山贸易有限公司版权所有 地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路和健云谷2栋B座1002

13823147125
13823147125
在线客服
手机
13823147125

微信同号