日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置

Name: 日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置
Brand: 其他品牌
Price: 1115 CNY
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产品名称: 日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置

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产品特点: 日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置
基于极 Kerr 效应完成硬盘垂直磁记录层磁滞回线测量，支持磁盘样品映射评估，半导体激光光源波长可协商，热辅助磁记录介质评估可另行对接。

日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置 的详细介绍

日本 NEOARK 硬盘垂直磁记录层评估装置

设备基础规格

‑测量方向：垂直方向

‑使用光源：半导体激光，波长可协商

‑空间分辨率：φ1mm

‑最大印加磁场：20kOe（2T）

‑核心功能：极克尔效应磁滞回线测量、磁盘样品映射评估

该设备依托极磁光克尔效应，针对硬盘垂直磁记录层开展磁性测试，采集样品磁滞回线，解析矫顽力、剩磁等关键磁性参数。设备支持磁盘样品映射扫描，获取磁盘不同位置磁性分布数据，便于分析薄膜成膜工艺的均匀性。探测光源采用半导体激光，可结合样品实际需求协商调整波长，适配多种垂直磁记录薄膜试样。整套设备由主机与控制单元组成，配套专业操作软件，完成磁场控制、信号采集、曲线输出、测试数据保存等全套作业。设备磁场输出能力强，信号检测单元可以捕捉微弱磁光信号，保障存储介质测试数据稳定可靠，可用于常规垂直磁记录介质的性能评价，热辅助磁记录介质评估可做专项方案对接，兼顾材料研发与磁盘样品工艺验证工作。

适用于硬盘存储介质制造厂商、磁存储材料科研机构、高校磁学实验室，开展硬盘垂直磁记录层磁性检测，磁盘样品映射评估，磁滞回线参数测定，垂直磁记录薄膜工艺开发与性能分析。

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