日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置

Name: 日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置
Brand: 其他品牌
Price: 1115 CNY
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产品名称: 日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置

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产品特点: 日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置
面向成膜硬盘记录层的面内背面层开展磁性评估，依托纵向 Kerr 效应完成面内磁化样品磁滞回线检测，支持磁盘样品映射评估，适配硬盘存储薄膜相关测试工作。

日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置 的详细介绍

日本 NEOARK 硬盘背板层评估装置

设备基础规格‑测量方向：面内方向‑使用光源：半导体激光‑空间分辨率：φ1mm‑最大印加磁场：2kOe（0.2T）~

‑核心功能：纵向克尔效应测试、磁滞回线采集、磁盘样品映射评估

设备基于纵向磁光克尔效应原理，专门针对硬盘成膜记录层的面内背面层做磁性性能检测，获取样品磁滞回线数据，解析薄膜磁化相关参数。可对磁盘样品开展映射扫描，得到磁盘不同区域磁性分布情况，方便排查薄膜工艺带来的性能差异。整机搭载半导体激光探测光源，搭配专用控制软件，完成磁场施加、信号采集、曲线绘制、数据存储全流程操作。设备磁场输出稳定，信号采集模块可以捕捉微弱的磁光信号，保障硬盘存储薄膜测试的数据可靠性。整机一体化机柜设计，抗环境干扰能力较强，既可以用于硬盘薄膜材料研发阶段样品测试，也能够用于磁盘样品工艺一致性筛查，为存储介质薄膜工艺迭代提供实测数据支撑。

面向成膜硬盘记录层的面内背面层开展磁性评估，依托纵向 Kerr 效应完成面内磁化样品磁滞回线检测，支持磁盘样品映射评估，适配硬盘存储薄膜相关测试工作。

适用于硬盘存储介质厂商、磁存储材料研发机构、高校磁学相关实验室，用于硬盘记录层背板层磁性检测，磁盘样品映射评估，面内磁化样品磁滞回线测试，存储类磁性薄膜工艺验证与性能分析。

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