日本 sigma-5 + 方块电阻测试仪

日本 sigma-5 + 方块电阻测试仪

日本 sigma-5 + 方块电阻测试仪

设备基础规格

• 测量方式：直流四探针法

• 测量时长：约 1.5 秒

• 显示方式：LED5 位数码管

• 厚度补偿范围：0.1~9999.9μm

• 测量精度：±0.2%

• 电阻率量程：1.0000mΩ-cm~500.00kΩ-cm

• 供电：AC100V

• 电流档位：1000nA~1mA

• 核心产品特性

  这款电阻率测试仪依托品牌二十余年四探针测量技术打造，台式紧凑机身，节省实验室台面空间，操作面板简洁易懂，参数设置灵活。设备搭载电流极性切换测量功能，有效抑制整流效应带来的测量误差，保障低阻、高阻区间数据一致性。内置自动调零与自动量程功能，无需人工反复切换档位，降低人为操作偏差，单次测量仅需约 1.5 秒，兼顾检测效率与测量精度。支持厚度补偿计算，可自动换算薄层方块电阻与体积电阻率，适配硅片、导电涂层、导电薄膜等多种试样。可搭配专用样品台、压力探头组件拓展测试能力，满足粉体、软质导电材料的测试需求，数据重复性好，长期运行稳定，是材料研发、来料检验、生产制程管控的可靠检测设备，适配严苛的半导体、新材料行业检测标准。

• 适用场景

  广泛用于半导体硅晶圆、太阳能电池硅片、ITO 导电薄膜、导电涂层、导电高分子材料、导电粉体的电阻率与方块电阻检测，适用于半导体制造、光电显示、新能源电池、新材料研发、高校实验室、第三方检测机构的样品研发、来料质检、出厂检测等环节。