HINDS Exicor GEN 大幅面双折射光学测量仪
HINDS Exicor GEN 大幅面双折射光学测量仪
是专为大尺寸光学材料检测打造的专业设备,核心基于 Exicor 低级双折射测量技术与精密自动化运动控制元件,可实现大幅面样品的高精度双折射检测。
系统可扫描区域达 1150mm×1375mm,GEN5 等型号采用高张力钢丝网载台,样品可测量区域,同时减少样品下垂与弯曲,保障检测精度。设备支持可选的高速 Scan In Motion™(SIM)选项,可大幅缩短检测时间,最快仅需 12 分钟即可完成样品表征,提升检测效率。
系统与早期 generation 型号兼容,设计可扩展至更大尺寸材料,同时适配非显示材料应用,如低技术含量片材、商业窗玻璃等。设备搭载 PEMLabs™光弹性调制器与 Signaloc™锁相放大器,延迟分辨率达 0.001nm,重复性 ±0.008nm,角分辨率 0.01°,重复性 ±0.05°,可同时测量双折射大小与角度,支持双轴晶格的 2D/3D 图形可视化,直观呈现检测结果。
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