美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统

Name: 美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统Exicor® OIA
Brand: 其他品牌
Price: 10000 CNY
Availability: InStock

点击看大图

产品名称: 美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统

产品型号: Exicor® OIA

产品特点: 美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统
是用于正入射、斜入射场景下，评估透镜、平行面及曲面光学元件的双折射检测设备，基于成熟的照片弹性调制器技术，为光学元件分析与开发提供专业支持。

美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统 的详细介绍

美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统

是针对光学元件检测需求推出的专业设备，可在正入射和斜入射角度下，完成透镜、平行面光学元件、曲面光学元件的双折射测量，适配下一代光刻透镜、透镜坯料等高价值光学元件的分析与开发工作。

系统核心基于 HINDS Instruments 的照片弹性调制器（PEM）双折射测量技术，利用偏振电磁波（PEM）调制光束的偏振状态，搭配优良的检测和解调电子设备，精准测量光学元件对光束偏振状态的改变，以此获取光学延迟数据，进而评估双折射、快轴方向，以及理论残余应力。

设备支持自动扫描平行平板、球面透镜类型，非球面元件可通过手动宏程序完成扫描，可生成 2D 阻尼和快轴方向图、扫描统计数据，直观呈现检测结果。系统配备舞台前进装载位置，可从上方自由访问样品台，方便样品取放；同时搭载紫外线和激光光封闭装置、安全联锁装置、紧急关闭按钮、系统状态指示灯塔，保障操作安全；配套用户工作站、计算机和显示器，满足实验室与工业场景的使用需求。

系统覆盖可见光与深紫外多波段检测，可见光延迟测量范围 0 到 300 + 纳米，深紫外延迟测量范围 0 到 90 + 纳米，延迟分辨率可达 0.001nm，角分辨率 0.01°，可满足高精度光学元件的检测要求，广泛应用于半导体光刻、透镜制造、光学元件研发等领域。

产品留言

美国 HINDS Exicor OIA 双折射测量光学系统

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：