产品资料
首页 >>> 产品中心 >>> 仪器仪表 >>> 测量仪 >>> WPA系列日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪

日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪

产品名称: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪
产品型号: WPA系列
产品特点: 日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪,是一款高精度光学测量设备,通过三波长测量技术,将位相差测量范围拓展至 0~3500nm,适用于薄膜、透明树脂等产品的厚度、相位差、应力测量,覆盖从显微镜尺寸到约 50cm 大尺寸样品,是光学材料、薄膜、树脂制品检测的专业仪器。

日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪 的详细介绍

日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪

日本 Photonic Lattice 高精度相位差测量仪

WPA 系列采用三波长测量分布技术,突破传统测量局限,将位相差测量范围拓展至 0~3500nm,可精准测量薄膜、透明树脂等透明 / 半透明样品的相位差、轴方位,数据处理选项还可实现应力值换算,满足光学材料、薄膜制品的高精度检测需求。设备测量精度高,位相差重复再现 σ<0.1nm,轴方位 σ<0.1°,确保检测结果稳定可靠。

多型号适配全场景

系列包含三款型号,覆盖不同尺寸样品的检测需求:
  • WPA-200:小型台式,适合实验室、小尺寸样品检测,重量仅约 13kg,安装便捷;

  • WPA-200-L:中型款,视野尺寸更大,适配中等尺寸样品,兼顾精度与效率;

  • WPA-200-XL:大尺寸款,最大可测约 50cm 样品,适合大型板材、面板检测,满足工业大尺寸样品检测需求。

应用领域广泛

设备适用于多个行业的检测场景:
  • 光学材料:水晶、玻璃、透明树脂等相位差、应力检测;

  • 薄膜行业:各类薄膜厚度、相位差均匀性检测;

  • 电子行业:仪表板、胶卷等产品的应力、相位差分析;

  • 科研实验室:材料光学特性研究、应力分析等。

操作与维护

设备配套 WPA - 视图软件,操作界面直观,可实时查看测量数据、生成分析报告;支持连续 / 间歇测量,适配不同检测流程;设备结构稳定,维护简单,GigE 接口实现数据高速传输,配套台式电脑可直接完成检测操作,无需复杂调试。



产品留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

深圳市秋山贸易有限公司版权所有 地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路和健云谷2栋B座1002

13823147125
13823147125
在线客服
手机
13823147125

微信同号